游標(biāo)卡尺檢定規(guī)程

1、質(zhì)量體系作業(yè)指導(dǎo)書質(zhì)量體系作業(yè)指導(dǎo)書游標(biāo)卡尺檢定操作規(guī)程游標(biāo)卡尺檢定操作規(guī)程編號(hào)：編號(hào)：1目的目的對(duì)游標(biāo)卡尺的檢定進(jìn)行規(guī)定，使其符合生產(chǎn)使用要求。2范圍范圍適用于本公司游標(biāo)卡尺的檢定。3職責(zé)職責(zé)3.1儀表室人員：負(fù)責(zé)本公司內(nèi)所有游標(biāo)卡尺的檢定工作，使用人員配合。4作業(yè)流程作業(yè)流程4.1游標(biāo)卡尺檢定項(xiàng)目和要求4.1.1外觀游標(biāo)卡尺表面應(yīng)無銹蝕、碰傷或其他缺陷?？叹€和數(shù)字應(yīng)清晰、均勻，不應(yīng)有脫色現(xiàn)象，游標(biāo)刻線應(yīng)刻至斜面下邊沿。4.1.2各部

2、分相互作用卡尺移動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)，不應(yīng)有阻滯現(xiàn)象。微動(dòng)裝置的空程，新制造的小于14轉(zhuǎn)，使用和修理后小于12轉(zhuǎn)。4.1.3游標(biāo)刻線面棱邊至尺身刻線面的距離。測量上限≤500mm其距離小于0.2mm測量上限500mm，其距離為0.25mm檢定時(shí)用二級(jí).塞尺檢定。4.1.4測量面的表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊以比較法檢定要求外量爪測量面小于0.2um內(nèi)量爪測量面小于0.4um帶深度尺的尺身端面小于0.8um。4.1.5外量爪測量面的平面度用平晶檢定

3、時(shí)在整個(gè)測量面上應(yīng)呈現(xiàn)任意形狀的干涉帶其平面度根據(jù)各方位的間隙情況確定當(dāng)所有檢定方位上出現(xiàn)的間隙均在中間或兩端部位時(shí)取其中一方位間隙量最大的作為平面度.當(dāng)其中有的方位中間部位有間隙而有的兩端部位有間隙則平面度以中間和兩端最大間隙量之和確定.要求用2級(jí)平晶或0級(jí)樣板直尺且平面度不超過0.002mm.4.1.6外量爪兩測量面的合并間隙移動(dòng)尺框使兩測量爪測量面至手感接觸觀察兩測量面間的間隙以光隙法檢定允許里端出現(xiàn)藍(lán)光即間隙小于0.006mm。