55探傷儀快捷操作1

1、一、一、LBUT55LBUT55型數(shù)字超聲波探傷儀的校準(zhǔn)型數(shù)字超聲波探傷儀的校準(zhǔn)1、斜探頭的校準(zhǔn)（以儀器標(biāo)配為準(zhǔn)）斜探頭的校準(zhǔn)（以儀器標(biāo)配為準(zhǔn)）（1）、常規(guī)校準(zhǔn)、常規(guī)校準(zhǔn)利用利用CSKIACSKIA試塊，首先是參數(shù)的設(shè)置：試塊，首先是參數(shù)的設(shè)置：探傷通道：按探傷通道：按鍵調(diào)出鍵調(diào)出“通道通道”功能選項(xiàng)，按其對應(yīng)的功能鍵功能選項(xiàng)，按其對應(yīng)的功能鍵進(jìn)入該選項(xiàng)，按進(jìn)入該選項(xiàng)，按鍵將光標(biāo)移動到鍵將光標(biāo)移動到“探傷通道探傷通道”選項(xiàng)，按選項(xiàng)，按、

2、鍵確定要使用第幾通道儲存相關(guān)數(shù)據(jù)。鍵確定要使用第幾通道儲存相關(guān)數(shù)據(jù)。探測范圍：按探測范圍：按鍵，按鍵，按、鍵設(shè)置具體的數(shù)值，一般是使屏幕能顯示一、二次底面回波。本例鍵設(shè)置具體的數(shù)值，一般是使屏幕能顯示一、二次底面回波。本例中輸入中輸入150150（按（按鍵可進(jìn)入數(shù)值的微調(diào)模式）鍵可進(jìn)入數(shù)值的微調(diào)模式）。材料聲速：按材料聲速：按鍵進(jìn)入鍵進(jìn)入“材料聲速材料聲速”選項(xiàng)，按選項(xiàng)，按、鍵設(shè)置具體的數(shù)值，本例中輸入鍵設(shè)置具體的數(shù)值，本例中輸入323

3、0ms3230ms。探頭零點(diǎn)：按光標(biāo)移動鍵探頭零點(diǎn)：按光標(biāo)移動鍵進(jìn)入進(jìn)入“探頭零點(diǎn)探頭零點(diǎn)”選項(xiàng)，按選項(xiàng)，按鍵將探頭零點(diǎn)歸零。鍵將探頭零點(diǎn)歸零。探頭探頭K值：按值：按“探頭探頭”相對應(yīng)的功能鍵相對應(yīng)的功能鍵，按，按鍵進(jìn)入鍵進(jìn)入“探頭探頭K值折射角度折射角度”選項(xiàng)，按選項(xiàng)，按鍵將探頭鍵將探頭K值折射角度歸零。折射角度歸零。探頭前沿：按探頭前沿：按鍵進(jìn)入鍵進(jìn)入“探頭前沿探頭前沿”選項(xiàng)，若當(dāng)前顯示為選項(xiàng)，若當(dāng)前顯示為“標(biāo)度方式標(biāo)度方式”可按可

4、按鍵調(diào)出鍵調(diào)出“探頭前沿探頭前沿”選項(xiàng)，按項(xiàng)，按鍵將探頭前沿值歸零。鍵將探頭前沿值歸零。接下來將斜探頭放在接下來將斜探頭放在CSKIACSKIA帶有圓弧的一端，如圖帶有圓弧的一端，如圖圖1圖2將探頭放在將探頭放在CSKCSK－1A1A標(biāo)準(zhǔn)試塊的標(biāo)準(zhǔn)試塊的0位上，前后移動探頭，使試塊位上，前后移動探頭，使試塊R100R100圓弧面的回波幅度最高，當(dāng)回波幅度圓弧面的回波幅度最高，當(dāng)回波幅度達(dá)到最高時(shí)，保持探頭不動。達(dá)到最高時(shí)，保持探頭不動。

5、探頭前沿：用刻度尺測量圖探頭前沿：用刻度尺測量圖1所示所示L值，前沿值，前沿x=100Lx=100L。并在。并在“探頭前沿探頭前沿”選項(xiàng)中輸入前沿值。選項(xiàng)中輸入前沿值。探頭零點(diǎn)：用閘門套住最高波，增加探頭零點(diǎn)值直到聲程探頭零點(diǎn)：用閘門套住最高波，增加探頭零點(diǎn)值直到聲程S=100S=100！探頭探頭K值：將斜探頭放在值：將斜探頭放在CSKIACSKIA試塊直角的一端，如圖試塊直角的一端，如圖2所示，所示，將探頭放在將探頭放在CSKCSK－

6、1A1A標(biāo)準(zhǔn)試塊的適當(dāng)?shù)慕嵌葮?biāo)記上，前后移動探頭，找到試塊中深度為標(biāo)準(zhǔn)試塊的適當(dāng)?shù)慕嵌葮?biāo)記上，前后移動探頭，找到試塊中深度為30mm30mm的短橫孔回波的短橫孔回波最高峰時(shí)，保持探頭不動。最高峰時(shí)，保持探頭不動。用直尺測量用直尺測量L值，利用公式：值，利用公式：K=PD=(L35X)DK=PD=(L35X)D并輸入儀器中，或者利用儀器自帶的并輸入儀器中，或者利用儀器自帶的K值自動計(jì)算功能：將值自動計(jì)算功能：將光標(biāo)移動到光標(biāo)移動到“探頭探

7、頭K值”選項(xiàng)，按選項(xiàng)，按鍵，直接輸入鍵，直接輸入L值，然后再次按按值，然后再次按按鍵，斜探頭的角度將自動計(jì)算。鍵，斜探頭的角度將自動計(jì)算。按、鍵調(diào)節(jié)增益使鍵調(diào)節(jié)增益使DACDAC評定線不低于滿屏的評定線不低于滿屏的20%20%的位置，作為起始探傷靈敏度。的位置，作為起始探傷靈敏度。2、AVGAVG曲線曲線（1）儀器的校準(zhǔn)儀器的校準(zhǔn)（2）利用利用CS115CS115試塊：試塊：按進(jìn)入進(jìn)入“探測范圍探測范圍”選項(xiàng)，按選項(xiàng)，按、鍵設(shè)置具體的數(shù)

8、值，根據(jù)需要設(shè)置為使屏幕能顯示一、二次鍵設(shè)置具體的數(shù)值，根據(jù)需要設(shè)置為使屏幕能顯示一、二次底面回波。在本例中輸入底面回波。在本例中輸入“300”“300”。按進(jìn)入進(jìn)入“AVG1AVG1”功能菜單選項(xiàng)，按功能菜單選項(xiàng)，按鍵將鍵將“AVG“AVG曲線曲線”設(shè)置為設(shè)置為“開”的狀態(tài)，按的狀態(tài)，按鍵將光標(biāo)移動到鍵將光標(biāo)移動到“晶片尺寸晶片尺寸”，按，按、鍵設(shè)置為所使用的直探頭晶片尺寸的大小，按鍵設(shè)置為所使用的直探頭晶片尺寸的大小，按鍵調(diào)出該欄的

9、二級菜單選項(xiàng)鍵調(diào)出該欄的二級菜單選項(xiàng)“探頭探頭頻率頻率”，按，按、鍵設(shè)置為所使用的直探頭晶片頻率的數(shù)值，按鍵設(shè)置為所使用的直探頭晶片頻率的數(shù)值，按鍵將光標(biāo)移動到鍵將光標(biāo)移動到“參考類型參考類型”，按，按、鍵設(shè)置為所使用鍵設(shè)置為所使用CS1CS1試塊的缺陷類型：平底孔，按試塊的缺陷類型：平底孔，按鍵調(diào)出該欄的二級菜單選項(xiàng)鍵調(diào)出該欄的二級菜單選項(xiàng)“參考尺寸參考尺寸”，按，按、鍵設(shè)置為所使用的鍵設(shè)置為所使用的CS115CS115試塊的缺陷大小

10、：試塊的缺陷大?。?MM4MM。將直探頭耦合于試塊端面，如圖將直探頭耦合于試塊端面，如圖8所示：所示：CS1CS1圖8移動探頭找到該試塊的一次底面回波，并確認(rèn)為最高，按移動探頭找到該試塊的一次底面回波，并確認(rèn)為最高，按鍵增加增益，移動探頭到試塊的圓心位置，在鍵增加增益，移動探頭到試塊的圓心位置，在一次底面回波前會出現(xiàn)試塊深度為一次底面回波前會出現(xiàn)試塊深度為200MΦ4MM200MΦ4MM缺陷的回波，閘門套住并確定為最高波，按缺陷的回波，

11、閘門套住并確定為最高波，按鍵，此時(shí)系統(tǒng)自鍵，此時(shí)系統(tǒng)自動調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的動調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80％的位置上，按％的位置上，按“AVG2”“AVG2”所對應(yīng)的所對應(yīng)的鍵，按鍵，按鍵將鍵將光標(biāo)移動到光標(biāo)移動到“標(biāo)定參考標(biāo)定參考0”0”，按，按鍵，使標(biāo)定參考顯示為鍵，使標(biāo)定參考顯示為“1”“1”。至此至此AVGAVG曲線就完成了，用戶可以根據(jù)不同的要求任意改變曲線的大小，方法如下：曲線就完

12、成了，用戶可以根據(jù)不同的要求任意改變曲線的大小，方法如下：在“AVG2”“AVG2”選項(xiàng)的第選項(xiàng)的第一個選項(xiàng)一個選項(xiàng)“AVG“AVG曲線曲線”（如果該欄顯示（如果該欄顯示“A“A閘門起始閘門起始”，按，按鍵調(diào)出該欄的二級菜單選項(xiàng)鍵調(diào)出該欄的二級菜單選項(xiàng)“AVG“AVG曲線曲線”），按，按、鍵設(shè)置為所需要的曲線大小（鍵設(shè)置為所需要的曲線大?。?.30.3～2020）。三、三、探傷實(shí)做（以下均沿用探傷實(shí)做（以下均沿用JBTJBT473047