軟件缺陷分析與預(yù)防技術(shù)研究與應(yīng)用.pdf

1、隨著軟件企業(yè)的不斷發(fā)展壯大，日益劇增的“競爭壓力”和“維護(hù)費(fèi)用”，讓企業(yè)認(rèn)識(shí)到重視軟件質(zhì)量的重要性。在這種背景下，深入總結(jié)研究缺陷分析方法，探尋軟件缺陷預(yù)防技術(shù)的發(fā)展運(yùn)用，對企業(yè)的持續(xù)發(fā)展和提高經(jīng)濟(jì)效益，有著重大的指導(dǎo)作用和實(shí)踐意義。
　　 本論文針對缺陷分析方法和缺陷預(yù)防技術(shù)的應(yīng)用實(shí)際，尤其在項(xiàng)目實(shí)施過程中應(yīng)用相對孤立的特點(diǎn)，通過對軟件缺陷分析方法和缺陷預(yù)防技術(shù)相關(guān)理論的仔細(xì)分析研究，提出了軟件缺陷分析方法和缺陷預(yù)防技術(shù)結(jié)合的

2、缺陷“矩陣管理”模型和“缺陷管理”過程，可提前預(yù)防軟件缺陷，有效地提高了軟件系統(tǒng)的質(zhì)量。在項(xiàng)目研發(fā)的不同階段，根據(jù)矩陣的運(yùn)算結(jié)果，推薦采用相應(yīng)的缺陷分析方法和選擇合適的缺陷預(yù)防技術(shù)，并運(yùn)用于“某光通訊系統(tǒng)”項(xiàng)目中,既加快了研發(fā)進(jìn)度、提高了軟件質(zhì)量，又降低了產(chǎn)品的錯(cuò)誤發(fā)生率，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)證明了“缺陷矩陣管理”模型的可用性，通過驗(yàn)證結(jié)果表明該模型是有效的。
　　 本論文的主要工作是闡述了缺陷分析和缺陷預(yù)防的理論知識(shí)，通過深入研究，結(jié)合實(shí)