開題報告-前放電路專用測試設(shè)備

1、<p>　　畢業(yè)設(shè)計（論文）開題報告</p><p><b>　　（學(xué)生填表）</b></p><p>　　院系：電子信息工程學(xué)院 2012年03月9日</p><p>　課題名稱前放電路專用測試設(shè)備</p><p>　學(xué)生姓名專業(yè)班級自動化084課題

2、類型硬件設(shè)計</p><p>　指導(dǎo)教師職 稱講師課題來源科研</p><p>　設(shè)計（或研究）的依據(jù)與意義前放電路是指把音頻（AUX、MIC）信號放大至功率放大器所能接受的輸入范圍。前放電路功能有兩個：一是要選擇所需要的音源信號，并放大到額定電平；二是要進行各種音質(zhì)控制，以美化聲音。組成前放電路的基本組成有：音源選擇、輸入放大和音質(zhì)控制等電路。音源選擇電路的作用是選擇所需的音源信號

3、送入后級，同時關(guān)閉其他音源通道。輸入放大器的作用是將音源信號放大到額定電平，通常是1V左右。音質(zhì)控制的作用是使音響系統(tǒng)的頻率特性可以控制，以達到高保真的音質(zhì)；或者根據(jù)聆聽者的愛好，修飾與美化聲音。廣義地說，前放電路包括一切對初始信號進行選擇，放大，以及優(yōu)化修飾的電路，特別是對初始信號的選擇和放大。結(jié)合本專業(yè)的所學(xué)以及工業(yè)控制現(xiàn)場，很多初始信號，例如傳感器輸出信號，都是需要先進行濾波放大處理以后才適于后續(xù)的傳輸，使用，所以對于信號進行初加

4、工的前放電路，其性能的優(yōu)劣將直接影響到整個系統(tǒng)的綜合性能，那么對前放電路的進行相關(guān)指標(biāo)進行測試就顯得極其重要，不但可以使使用者清楚地了解設(shè)備的適用范圍，避免出現(xiàn)不符合技術(shù)要求的數(shù)據(jù)進入后續(xù)的信息處理電路，產(chǎn)生誤動作，甚至出現(xiàn)事故；也可以為器材生產(chǎn)商提供必要</p><p>　2. 國內(nèi)外同類設(shè)計（或同類研究）的概況綜述測試既是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的一環(huán)，也是集成電路產(chǎn)品驗證出廠的關(guān)鍵，由于測試技術(shù)含量高、知識密集，一

5、直是我國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的制約因素。近幾年來，對于剛剛提速的國內(nèi)半導(dǎo)體業(yè)來說，其測試能力相對IC設(shè)計、制造、封裝，這卻是最薄弱的一環(huán)。芯片測試是集成電路產(chǎn)業(yè)不可或缺的一個重要環(huán)節(jié)，而測試時間和測試效能是制約集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的兩個重要因素。與迅速發(fā)展的設(shè)計業(yè)相比之下，我國測試業(yè)的發(fā)展卻相對滯后，目前能夠獨立承擔(dān)專業(yè)測試服務(wù)的公司寥寥無幾，不能滿足眾多IC設(shè)計公司的驗證分析和產(chǎn)業(yè)化測試需求，已日益成為我國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的一個瓶頸。目前，對

6、于高端集成電路產(chǎn)品，主要還是送到國外去測試，國內(nèi)的測試能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)滿足不了市場的需求。面對當(dāng)前我國的測試行業(yè)現(xiàn)狀，一種基于虛擬儀器的測試技術(shù)不斷發(fā)展，這充分的利用了計算機硬件資源的超高性價比，以及通用性強的特點，使得測試工作變得相對容易，目前有不少關(guān)于虛擬儀器結(jié)合相關(guān)接口板卡為基礎(chǔ)的測試平臺，本研究對象的前置放大電路也有不少人從事相關(guān)的測試，但是就我所見，有些測試設(shè)備混亂，有些可以精簡，而有些顯得不足，甚至一些重要的參數(shù)</p>

7、<p>　3. 課題設(shè)計（或研究）的內(nèi)容初步計劃采用NI公司PXI設(shè)備建立一套專用于前放電路的測試設(shè)備，具體硬件電路的選擇后期再做充分的論證。設(shè)備具有可編程供電單元、電路動態(tài)性能測試單元和噪聲測試單元等。設(shè)備能夠產(chǎn)生高頻率的正弦波形，能夠完成高速數(shù)據(jù)采集和分析，實現(xiàn)放大器動態(tài)性能測試；另外測試設(shè)備還能夠?qū)/D轉(zhuǎn)換芯片實現(xiàn)AD轉(zhuǎn)換有效位數(shù)測試。設(shè)計一套完整的測試設(shè)備，能夠?qū)崿F(xiàn)如下功能；1、測試放大器放大倍數(shù)；2、測試放大器

8、帶寬；3、測試放大器幅頻特性，并繪制波特圖；4、測試放大器信噪比，計算放大器噪聲大??；5、A/D轉(zhuǎn)換芯片轉(zhuǎn)換結(jié)果可通過RS422接口與計算機通訊，測試設(shè)備可對AD轉(zhuǎn)換結(jié)果進行有效位數(shù)計算，估計AD轉(zhuǎn)換芯片有效位數(shù)；</p><p>　4. 設(shè)計（或研究）方法（方案）首先對測試對象進行必要的抽象，為一個可以方便而有效地對放大器進行參數(shù)測試工作而建立的一套測試設(shè)備，初步思路如下圖：對于附屬電路，如信號發(fā)生模塊，供電模

9、塊，A/D轉(zhuǎn)化模塊，以及相應(yīng)的測試電路沒有畫出，這里僅僅畫出了簡單的流程圖。對于前置放大電路的測試，需要一套比被測放大器精度更高，性能更優(yōu)越的設(shè)備來完成，也就是說測試系統(tǒng)的放大性能指標(biāo)要比被測放大器精密至少一兩個數(shù)量級以上。一套理想的測試系統(tǒng)，應(yīng)該有這樣的性能，對噪聲，干擾，溫度，電網(wǎng)波動等有絕對的抵抗能力，本身又沒有任何的信號失真，并能夠快速而高精度地處理數(shù)據(jù)，而且方便地顯示，另外除了可以自動地完成預(yù)定的測試任務(wù)外，還可以方便地進行人

10、機交互?；赟imple is Best的設(shè)計理念，在考慮性能的同時還應(yīng)該注意整個設(shè)備的簡單性，另外，為了取得更好的綜合性能，采取供電模塊與測試模塊分離的方式，每一個模塊有足夠的內(nèi)斂性是極其必要的。具體說來，首先由信號發(fā)生模塊產(chǎn)生系統(tǒng)需要的測試信號，然后分別采樣前放電路（這里用放大器代替）的輸入與輸出，進行必要的轉(zhuǎn)換后送入計算機，進行運算處理，然后將結(jié)果顯示出來。對于信號的處</p><p>　5. 實施計劃第4

11、-5周 開題報告撰寫，答辯。第6-7周 調(diào)研完成方案論證工作。第8-10周 初步完成總體方案設(shè)計。第11-12周 完成具體功能設(shè)計內(nèi)容。第13-15周 完成算法研究、軟件設(shè)計，進行調(diào)試工作。第16-17周 撰寫論文，準(zhǔn)備答辯。</p><p>　指導(dǎo)教師意見指導(dǎo)教師簽字： 年 月 日<