射頻芯片高低溫自動測試平臺的實現(xiàn).pdf

1、隨著電子芯片產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展，芯片質(zhì)量的優(yōu)劣直接影響到了產(chǎn)品性能的好壞。因而對芯片進(jìn)行自動化測試的研宄已經(jīng)非常必要。NRF24L01是一款常用的頻率在2.45GHz左右能進(jìn)行無線收發(fā)的芯片，本文設(shè)計了一套針對該芯片的自動化測試平
　　本文首先介紹了測試平臺的意義和本文結(jié)構(gòu)安排，然后介紹了為芯片檢測提供外部溫度環(huán)境的儀器一一高低溫試驗箱，以及NRF24L01射頻芯片的工作模式和本文利用測試平臺要控制的發(fā)射模式，給出了自動化測試平臺的整

2、體設(shè)計框架。接著闡述了虛擬儀器的概念、虛擬儀器體系結(jié)構(gòu)、控制指令和總線技術(shù)等，基于這些原理實現(xiàn)了該測量系統(tǒng)中對頻譜儀的控制。首先為上位機(jī)界面的實現(xiàn)，基于數(shù)據(jù)庫訪問技術(shù)和VISA函數(shù)的應(yīng)用，設(shè)計了一款界面，該界面可以實現(xiàn)初始化頻譜儀、自動控制測試平臺和自動管理測試數(shù)據(jù)等。然后為下位機(jī)平臺的實現(xiàn)，通過串口通信方式實現(xiàn)基于STM32F103芯片的測試平臺對NRF24L01射頻芯片的工作模式的設(shè)置，完成了上位機(jī)對射頻芯片的控制。測試平臺實現(xiàn)了測