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1、光纖連接器是光纖通信領(lǐng)域的重要元器件之一,為了連接直徑125μm 范圍內(nèi)的光纖,首先要解決光纖連接器端面質(zhì)量控制問(wèn)題,端面質(zhì)量的好壞直接影響光纖連接器連接損耗;在實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中,需要實(shí)時(shí)檢測(cè)光纖端面以保證質(zhì)量。 因此研究光纖連接器端面處理技術(shù), 全面分析光纖連接器端面質(zhì)量對(duì)其光學(xué)技術(shù)指標(biāo)的影響,本論文對(duì)光纖連接器的連接技術(shù)及生產(chǎn)工藝都具有指導(dǎo)意義。 本文用實(shí)驗(yàn)對(duì)光纖連接器端面研磨技術(shù)、端面測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了重點(diǎn)研究,并重點(diǎn)討
2、論:首先,確定光纖連接器所需測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),分析與此技術(shù)指標(biāo)相關(guān)并影響此技術(shù)指標(biāo)的重要參數(shù),由此測(cè)試其技術(shù)指標(biāo)。其次,設(shè)置不同研磨時(shí)間、研磨壓力、研磨材料對(duì)光纖連接器端面進(jìn)行研磨實(shí)驗(yàn),并將研磨后的光纖連接器端面進(jìn)行干涉測(cè)試分析,找到一套較先進(jìn)的光纖連接器研磨工藝。最后分析拋光工藝對(duì)光纖連接器端面質(zhì)量的影響以及光纖連接器端面質(zhì)量對(duì)其回波損耗的影響,分析光纖連接器端面質(zhì)量對(duì)其插入損耗的影響。 本論文的特色和主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn):以插芯端面
3、畫(huà)“8”字的去膠方法代替“行星軌道運(yùn)動(dòng)軌跡”的去膠方法,可最大限度避免破壞插芯的P C 面,降低了研磨成本。依次選用粗磨磨粒粒徑為6μm、中磨磨粒粒徑為3μm、細(xì)磨磨粒粒徑為1μm、拋光磨粒粒徑為0.5μm 的研磨紙研磨,改善了光纖連接器端面質(zhì)量。 選用氧化硅和氧化鈰材料的拋光研磨紙,研究出拋光對(duì)光纖連接器回波損耗的影響規(guī)律。理論上分析了不同的端面劃痕對(duì)光纖連接器回波損耗的影響。實(shí)驗(yàn)證實(shí)了光纖橫向位移是光纖連接器插入損耗的決定因
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