一種克服工藝參數(shù)影響的瞬態(tài)電流測試方法.pdf

1、瞬態(tài)電流測試方法主要通過故障狀態(tài)下的瞬態(tài)電流與正常狀態(tài)下的瞬態(tài)電流的差別來檢測故障。在保證激活故障的條件下，若無故障電路和故障電路的瞬態(tài)電流差別盡可能大，則認為檢測到了故障。但是，即使是同一設(shè)計的芯片，也會有不同的工藝參數(shù)。在CMOS電路中，隨著VDSM(verydeepsubmicron)技術(shù)的應(yīng)用，某些工藝參數(shù)將會對電路產(chǎn)生影響。在瞬態(tài)電流測試中，不同的工藝參數(shù)，會使得同一設(shè)計的無故障電路產(chǎn)生不同的瞬態(tài)電流。當這兩個電流差別較大時，

2、若我們不考慮工藝參數(shù)的影響，那么我們極有可能認為這個電路是有故障的。這就影響了我們對電路是否存在故障的判斷，降低了測試質(zhì)量。 因此，我們需要尋求一種測試方法以克服這一影響。在IDDQ測試中，穩(wěn)態(tài)電流值也受到工藝變化的影響。為了提高區(qū)別好的電路與故障電路響應(yīng)的分辨能力，電流特征的描述就得以提出。電流特征描述技術(shù)不是根據(jù)單個閥值來確定電路是否有故障，而是根據(jù)特征符號來分析。特征符號是對所有測量值的幅值排序得來的。利用電流特征的穩(wěn)定性