高功率超寬帶微波脈沖對半導(dǎo)體器件損傷的實驗研究.pdf

1、隨著技術(shù)的發(fā)展，各種半導(dǎo)體器件在雷達(dá)系統(tǒng)、自動控制系統(tǒng)、通訊系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、偵察系統(tǒng)中被廣泛應(yīng)用。由于高功率超寬帶脈沖輻射可通過天線、工藝縫隙、維護(hù)設(shè)備的艙口、通風(fēng)口、供電系統(tǒng)、導(dǎo)線和電纜等進(jìn)入電子系統(tǒng)，從而導(dǎo)致系統(tǒng)暫時失靈，甚至崩潰，造成不可估量的損失，因此，研究高功率微波脈沖對半導(dǎo)體器件作用的效應(yīng)，以及對半導(dǎo)體器件工作中的干擾和影響，具有重要意義。 對于課題的研究，我們首先從理論入手，著重闡述電磁干擾在空間的傳播及耦合的理論

2、，再由分析半導(dǎo)體器件基本的物理結(jié)構(gòu)及受到高功率微波脈沖輻照后的響應(yīng)出發(fā)，由局部擴(kuò)展至全局，考慮由此對整個電子系統(tǒng)的影響，即從理論出發(fā)，逐步構(gòu)建實驗系統(tǒng)，以實驗的手段驗證理論的可靠性。 課題主要目的是建立高功率微波實驗系統(tǒng)，測定用半導(dǎo)體器件使用的是易于開發(fā)，靈活性強的CPLD芯片。實驗系統(tǒng)建立之初，首先對金屬屏蔽材料的屏蔽效能進(jìn)行計算分析，根據(jù)分析結(jié)果和實驗的具體要求改進(jìn)設(shè)計；由于研究高功率微波干擾時，屏蔽盒上的孔縫效應(yīng)也是必須考