高功率微波對電子器件損傷的初步研究.pdf

1、高功率微波對電子系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生破壞效應(yīng)。從國家安全和社會(huì)穩(wěn)定的角度考慮，對這種效應(yīng)進(jìn)行研究是十分必要的。研究可以分為實(shí)驗(yàn)分析和理論分析兩個(gè)方面，兩者是相輔相成的。其中，實(shí)驗(yàn)是基礎(chǔ)，從實(shí)驗(yàn)中得到的數(shù)據(jù)或結(jié)論可以為理論模型的建立提供依據(jù)；而通過對基礎(chǔ)理論的研究，對場進(jìn)行深入分析，建立相應(yīng)的模型并仿真，可以為下一步實(shí)驗(yàn)提供依據(jù)，為實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的建立和實(shí)驗(yàn)流程的設(shè)計(jì)打下堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)；最后通過實(shí)驗(yàn)可以驗(yàn)證理論分析的結(jié)果，并為進(jìn)一步進(jìn)行深入的理論分析創(chuàng)造條件

2、。 本文首先介紹了高功率微波對電子器件的作用效應(yīng)和分析方法，對測試的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并提出改進(jìn)方案，接著介紹高功率微波對電子器件的損傷模式和損傷機(jī)理；然后對電磁場分布情況進(jìn)行理論研究，并用ANSYS有限元分析軟件對電磁場分布進(jìn)行建模、仿真。電子器件內(nèi)部和系統(tǒng)之間存在著大量的金屬互聯(lián)引線，在高功率微波的作用下充當(dāng)了接收天線的作用，其上感應(yīng)出的電流過大時(shí)就可以將金屬引線燒毀。因此，在可以充分說明問題的基礎(chǔ)上，為了分析方便，本文從金