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文檔簡介
1、電觸頭亦稱觸點或接點,是電器開關(guān)、儀器儀表等的接觸元件,擔(dān)負(fù)著通斷電流的任務(wù)。因此,它的性能直接影響著開關(guān)電器的可靠運行。Ag-W觸頭具有良好的導(dǎo)熱和導(dǎo)電性能、耐電磨損性能、抗熔焊性能、抗氧化能力等優(yōu)點。銀銅鋅焊料是一種廣泛使用的銀基釬焊料。其特點是熔點較低,潤濕性及填縫能力好,接頭強(qiáng)度高等。因此,進(jìn)行觸頭焊料擴(kuò)散連接的工藝和機(jī)理研究, 對觸頭和焊料的應(yīng)用具有重要的理論意義和實際應(yīng)用價值。 本文采用X射線衍射儀(XRD)、掃描
2、電鏡(SEM)、顯微硬度計、數(shù)字電橋等先進(jìn)測試手段對界面附近區(qū)域的顯微組織、電性能、相結(jié)構(gòu)、斷口形貌、能譜和元素的擴(kuò)散分布進(jìn)行了分析;通過正交試驗擴(kuò)散連接,研究了加熱溫度、保溫時間、外加壓力等工藝參數(shù)對擴(kuò)散連接材料的電性能以及結(jié)合強(qiáng)度的影響,優(yōu)化了工藝參數(shù);根據(jù)Fick第二定律,采用誤差函數(shù)解和能譜分析結(jié)果計算了觸頭焊料擴(kuò)散焊接時Cu原子在銀中的擴(kuò)散因子 以及擴(kuò)散激活能 ,以及Cu原子擴(kuò)散的距離,與實際測得的距離進(jìn)行了對比分析。
3、 研究結(jié)果表明,在進(jìn)行探索性試驗時,在較低的壓力下,加熱溫度低于700℃時,由于加熱溫度較低原子的擴(kuò)散能力不足,試樣之間不能形成有效地擴(kuò)散。在進(jìn)行正交試驗分析時,分別以電阻率和結(jié)合區(qū)線百分比為指標(biāo)分析時所得的結(jié)果不同。并以電阻率和結(jié)合區(qū)線百分比以3:1的權(quán)重分析,得到了本試驗條件下的最佳工藝參數(shù)。在最佳工藝條件下進(jìn)行的驗證試驗表明,所得的電阻率和結(jié)合區(qū)線百分比都有很好的重復(fù)性。進(jìn)行無壓擴(kuò)散連接時,銀中間層的含量對觸頭焊料的電性能有較大的
4、影響,含銀中間層較多時有更為優(yōu)良的電性能。 在本試驗條件下,影響結(jié)合的三個工藝參數(shù)由主到次分別為焊接溫度、外加壓力、保溫時間。觸頭焊料最佳的擴(kuò)散連接工藝條件是675℃×2h、0.09MPa。采用本工藝條件,可以使銀鎢觸頭和銀銅鋅焊料較好地擴(kuò)散連接在一起。連接后的電阻率為4.5343Ω?mm。對連接區(qū)進(jìn)行物相分析表明,在觸頭側(cè)生成了CuZn相,在焊料側(cè)并沒有發(fā)現(xiàn)新相。觸頭焊料擴(kuò)散焊接頭的斷口分析表明,接頭具有一定的韌性,斷裂從銀過
5、渡層處開始,縫隙和孔洞是導(dǎo)致斷裂的根本原因。 利用掃描電鏡對觸頭焊料擴(kuò)散連接區(qū)域進(jìn)行線掃描發(fā)現(xiàn),在較低溫度下,只有Cu原子能夠從焊料側(cè)擴(kuò)散至觸頭側(cè),Zn原子不能擴(kuò)散。溫度是影響擴(kuò)散的最大因素,提高加熱溫度對原子擴(kuò)散的作用比延長保溫時間更顯著,Cu原子和Zn原子擴(kuò)散距離會隨著溫度的升高而增大,但Zn的擴(kuò)散速度比Cu的擴(kuò)散速度慢。Cu原子和Zn原子的擴(kuò)散均會隨著時間的延長,其濃度以指數(shù)關(guān)系衰減并很快收斂。計算了675℃×1h和700
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