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文檔簡介
1、隨著磁記錄密度的持續(xù)攀升,硬盤驅(qū)動器中磁頭的飛行高度不斷下降,從而使磁頭與磁碟之間的交互作用形勢日趨嚴峻。其中一個重要的挑戰(zhàn)是如何應對微小顆粒帶來的嚴重影響??刂仆鈦砦廴驹词且粋€有效的策略;而硬盤驅(qū)動器系統(tǒng)內(nèi)部固有源頭(比如,磁碟表面的潤滑層液滴)的存在,則促使磁頭與磁碟界面系統(tǒng)選擇其它的策略進行變革,以提高硬盤驅(qū)動器產(chǎn)品的可靠性。其中一個重要的內(nèi)容就是磁頭氣墊面設(shè)計的改進。
本文首先介紹了磁頭氣墊面設(shè)計的基本工具,即雷諾方程
2、在磁頭與磁碟界面系統(tǒng)中的應用。說明了因磁頭超低飛行高度帶來的稀薄化效應,以及雷諾方程的修正模型;介紹了雷諾方程數(shù)值求解的技術(shù),包括有限體積離散化和多重網(wǎng)格迭代方法等。
然后著眼于微小顆粒的影響,本文闡述了由微小顆粒引起的硬盤失效模式。
最后結(jié)合實際產(chǎn)品的要求,本文設(shè)計了一款具有清潔功能的磁頭氣墊面。重點探討了磁頭氣墊面設(shè)計中的重要指標,包括磁頭的輪廓弧度,“導渠”的設(shè)計,凹槽過渡區(qū)的形態(tài)等,以及通過對它們的優(yōu)化設(shè)計,
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