由硬盤磁頭載入載出引起的磁盤壞道的檢測(cè)方法.pdf

1、檢測(cè)由硬盤磁頭載入載出引起的磁盤壞道對(duì)于將斜坡支架作為磁頭停留區(qū)的硬盤產(chǎn)品來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)非常重要的測(cè)試。通過(guò)測(cè)試可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)磁頭在載入載出的過(guò)程中對(duì)磁盤造成損傷的問(wèn)題，避免此類問(wèn)題硬盤流入市場(chǎng)導(dǎo)致用戶數(shù)據(jù)丟失的不良后果。目前由硬盤磁頭載入載出引起的磁盤壞道的檢測(cè)方法存在測(cè)試不合格率偏高的問(wèn)題，已經(jīng)超出了產(chǎn)品設(shè)計(jì)的預(yù)期，給工廠造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。
　　 本文的研究目標(biāo)是通過(guò)對(duì)不合格產(chǎn)品樣本的失效性分析，找出不合格率偏高的根本原因，并提

2、出切實(shí)可行的改進(jìn)方案。首先分析了原本檢測(cè)由磁頭載入載出引起的磁盤壞道測(cè)試的方法及步驟；然后通過(guò)對(duì)不合格產(chǎn)品樣本的失效性分析，找到了造成不合格率偏高的根本原因，并為改進(jìn)方案的設(shè)計(jì)提供了重要數(shù)據(jù)依據(jù)；接著針對(duì)原本測(cè)試方法誤判率過(guò)高的問(wèn)題，結(jié)合工廠的實(shí)際情況，提出了切實(shí)可行的改進(jìn)方案；最后對(duì)改進(jìn)方案進(jìn)行分階段驗(yàn)證，保證了優(yōu)化后的測(cè)試方法順利投入到生產(chǎn)測(cè)試中使用。
　　 由磁頭載入載出引起的磁盤壞道的檢測(cè)方法，在確保測(cè)試時(shí)間沒有增加、產(chǎn)