橢偏光譜法測量波片相位延遲量.pdf

1、在偏光技術中，相位延遲器(或波片)可以將線偏振光轉化為橢圓偏振光、圓偏振光，即實現偏振光的轉換，因此是一類重要的偏光器件。如何精確而又方便地測定晶體的相位延遲量一直受到人們的關注。目前，測量的方法主要有光電調制法、補償法及光譜法等。但是有的方法過于復雜，有的只能用于測量1/4波片的相位延遲。并且很多方法只能對單個波長進行測量，不能得出在波長改變時的結果。針對這一問題，本文用橢偏光譜法給出了一種能連續(xù)測量波片在一定光譜范圍內的延遲量的方法

2、。該方法具有測量方便、周期短、精度高等特點。 1945年，A．Rothen設計和描述了第一臺橢圓偏振測量儀，用于測量和研究薄膜表面的光學性質(如折射率和厚度)。自此以后橢圓偏振測量技術開始應用到越來越廣泛的領域，橢偏儀也得到了長足的發(fā)展，由開始的手動測量變成自動測量，光譜范圍逐漸變寬，測量精度也越來越高。本文使用法國Jobin-Yvon公司生產的UVISAL型橢偏儀，利用其透射形式對石英波片和云母波片在一定光譜范圍內的延遲量進行

3、了測量。全文概括起來有以下幾個方面的內容： 第一章主要介紹了本論文的目的、意義。 第二章介紹了橢偏儀的結構及主要應用，并介紹了本實驗用到的UVISAL型橢偏儀的結構及其性能。 第三章介紹了橢偏測量的基本理論，討論了反射橢偏測量術和透射橢偏測量術，并分析了波片表面多次相干反射對延遲量和透過率的影響。 第四章在實驗上給出了石英波片和云母波片在一定光譜范圍內的延遲量隨波長的變化，計算出了石英和云母晶體在不同波長