改進型BMIT激勵源設計及水腫腦組織電導率和介電常數(shù)測量.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、腦磁感應斷層成像(BrainMagneticInductionTomography,BMIT)技術,是一種新型的非接觸式功能性成像技術。它利用磁感應檢測原理,測量生物組織電導率分布,從而對生物組織電導率分布進行重構并成像。由于它具有無創(chuàng)、非接觸等優(yōu)點,適用于臨床對腦水腫等病變進行連續(xù)監(jiān)護。
  當前在臨床上腦水腫可能由各種病因引起,比較常見的有高血壓、腦腫瘤、腦外傷等。出現(xiàn)腦水腫時需要對病人進行連續(xù)、實時、準確的成像監(jiān)護,以便于及

2、時的診斷和救治。BMIT對于以上問題有著明顯的優(yōu)勢和潛在的應用前景,但是過長過多的電磁暴露本身會對人體造成一定程度的傷害,而關于相關激勵源研究沒有詳細的報道,所以滿足人體在電磁暴露環(huán)境下安全標準的BMIT激勵源對于臨床應用具有十分重要的意義。
  同時,獲得水腫腦組織與正常腦組織的電導率和介電常數(shù)對BMIT的臨床實現(xiàn)具有重要意義。測量水腫腦組織與正常腦組織的電導率和介電常數(shù),不但能夠為BMIT的理論模型提參考數(shù)據(jù),而且能夠為BMI

3、T系統(tǒng)被測目標實際相位差測量結果提供參考依據(jù)。
  本研究設計并實現(xiàn)了滿足人體在電磁暴露環(huán)境下的安全標準的BMIT激勵源,產(chǎn)生了滿足安全標準的激勵磁場。另外,對水腫和正常腦組織的電導率和介電常數(shù)分別進行了測量。具體工作內(nèi)容如下:
  1.針對人體在電磁環(huán)境下暴露的安全問題,依據(jù)美國電氣和電子工程師協(xié)會(InstituteofElectricalandElectronicsEngineers,IEEE)電磁暴露安全標準,設計了

4、三種激勵線圈,矩形聚焦線圈、圓形聚焦線圈、螺線管線圈和相應的激勵電路;
  2.通過測量激勵線圈的電感值,在全磁通一定的情況下,校正激勵電流以滿足安全性標準。利用法拉第電磁感應定律,測量激勵源產(chǎn)生磁場的磁感應強度大小,確保滿足人體在電磁暴露環(huán)境下的安全標準;
  3.通過配制電導率為0.5S/m和1.5S/m的氯化鈉溶液,在改進型BMIT激勵源的作用下,對其產(chǎn)生的相位差進行測量,表明激勵源在滿足人體在電磁暴露環(huán)境下的安全標準

5、后,可以有效地測量出被測目標產(chǎn)生的相位差;
  4.通過對家兔頸部淋巴回流阻斷,建立淋巴滯留型腦水腫模型,然后將水腫腦組織和正常腦組織進行電導率和介電常數(shù)的測量,得到了相應的頻譜。為BMIT系統(tǒng)早日應用于臨床打下了基礎。
  研究結果表明:
  1.利用人體在電磁暴露環(huán)境下的安全標準,設計并實現(xiàn)的改進型BMIT激勵源能夠產(chǎn)生滿足此標準的磁場,以圓形聚焦線圈為例,在200KHz、1MHz、10MHz三個頻率下,產(chǎn)生的磁感

6、應強度最大分別為0.189T、0.057T和0.0054T,符合我們的設計要求。兩外兩種激勵線圈產(chǎn)生的磁場的感應強度也同樣滿足標準要求;
  2.氯化鈉溶液實驗表明,本研究設計的激勵源在滿足人體在電磁暴露安全標準的前提下,可以測量出被測目標產(chǎn)生的相位差,隨著頻率、電導率的升高,相位差逐漸增加;
  3.腦組織發(fā)生水腫以后,其電導率和介電常數(shù)發(fā)生改變,具體表現(xiàn)為,電導率較正常腦組織增加,介電常數(shù)較正常腦組織減小。
  本

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