StrongARM處理器的測(cè)試結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì).pdf

1、集成電路的設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的三個(gè)主要環(huán)節(jié)，隨著芯片集成度的大大提高，利用傳統(tǒng)的方法進(jìn)行測(cè)試也變得越來(lái)越困難，這就需要我們?cè)诩呻娐吩O(shè)計(jì)階段就為測(cè)試做準(zhǔn)備，這樣的結(jié)構(gòu)就是可測(cè)性設(shè)計(jì)。 StrongARM處理器是一款與ARM系列處理器兼容的嵌入式處理器，本文針對(duì)StrongARM處理器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，研究了內(nèi)部掃描路徑、邊界掃描、內(nèi)建自測(cè)試等可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)，并設(shè)計(jì)完成了嵌入式存儲(chǔ)器的內(nèi)建自測(cè)試控制器和整個(gè)芯片的邊界掃描控

2、制器。 掃描測(cè)試是一種應(yīng)用較廣的結(jié)構(gòu)化可測(cè)性設(shè)計(jì)方法，它通過(guò)對(duì)掃描觸發(fā)器的修改，在芯片內(nèi)部構(gòu)成掃描路徑，大大提高了電路內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的可觀察性和可控制性。本文采用了多路選擇器型掃描單元和全掃描策略對(duì)StrongARM處理器進(jìn)行內(nèi)部掃描設(shè)計(jì)。 內(nèi)建自測(cè)試(BIST)結(jié)構(gòu)可以在電路內(nèi)部建立測(cè)試生成、施加、分析和測(cè)試控制結(jié)構(gòu)，使得電路能夠?qū)ψ陨磉M(jìn)行測(cè)試。本文針對(duì)StrongARM處理器內(nèi)部嵌入式SRAM的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，設(shè)計(jì)完成了存儲(chǔ)器的