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文檔簡介
1、隨著GaAs電路越來越廣泛的應(yīng)用,其電路模擬技術(shù)也得到迅速發(fā)展。電路模擬的精度不僅與器件模型本身有關(guān),還與給定的器件模型參數(shù)值是否正確有密切關(guān)系,因而器件模型參數(shù)提取就成了電路設(shè)計中的一個重要環(huán)節(jié)本論文從GaAs MESFET的器件模型開始討論,由兩區(qū)模型導(dǎo)出了GaAsMESFET的物理模型,得出其漏源電流的計算公式,由于物理模型的計算過于復(fù)雜以及工藝的多變性,GaPs MESFET物理模型并不適用于電路模擬。電路模擬軟件Pspicc中
2、建立了適合電路模擬的GaAs MESFET模型,本論文對其各級模型的模型公式、特性和適用范圍進(jìn)行了研究,特別針對應(yīng)用較為廣泛的Curtice和Statz模型進(jìn)行了詳細(xì)說明。 本論文對GaAs MESFET器件的模型參數(shù)的提取方法進(jìn)行了研究,采用了優(yōu)化曲線擬合的技術(shù),研究了優(yōu)化初值的取值方法,并針對實例對器件進(jìn)行模型參數(shù)提取,最后得出模擬曲線與原曲線的比較結(jié)果,證明了此方法可以比較準(zhǔn)確地提取出器件的模型參數(shù)。 模型參數(shù)的提
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