500kV直流支柱式瓷絕緣子離子遷移的研究.pdf

1、該文針對500kV直流支柱式瓷絕緣子離子遷移的問題進行了研究,探討了離子遷移對500kV直流支柱式絕緣子瓷材料的影響,為國內自行研制500kV直流支柱式絕緣子提供了理論和試驗依據(jù).在對離子遷移試驗研究的過程中,對原有離子遷移試驗測量系統(tǒng)進行了改進,通過為每路泄漏電流回路設置接地開關及公共測量開關,并在軟件上為測量回路設定4種狀態(tài),提高了測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性.以懸式絕緣子離子遷移試驗標準為基礎,完整的設計了500kV直流支柱式瓷絕緣子離子遷移

2、試驗,其中包括研究了試品體積電阻隨溫度場強變化的規(guī)律,成功的設計了試驗試品,確定了長期離子遷移試驗電壓(40kV)和試驗溫度(130℃),計算了50年累計電荷量(0.173C).對10支試品進行了長期離子遷移試驗,測量了泄漏電流曲線和累計電荷量隨時間變化曲線,計算了試品的離子遷移率和遷移距離,并對試品Na<'+>、K<'+>的含量進行了化學分析.長期離子遷移試驗結果表明,試品通過了離子遷移試驗且表面沒有任何機械問題.化學分析結果表明長期