微測輻射熱計(jì)非均勻性測試及校正技術(shù)研究.pdf

1、紅外技術(shù)作為一種發(fā)現(xiàn)、探測和識別目標(biāo)的重要手段而在軍民兩用技術(shù)中有著廣泛的應(yīng)用,焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展極大地提高了系統(tǒng)的性能,使紅外系統(tǒng)具有實(shí)時(shí)成像能力.由于需要制冷使紅外系統(tǒng)體積過大、成本偏高,限制了它在民用領(lǐng)域的應(yīng)用.九十年代中期在非制冷微輻射熱計(jì)紅外焦平面陣列制造技術(shù)方面取得重大突破,使紅外系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)體積小、重量輕、價(jià)格低、可便攜化,極大地推動了紅外系統(tǒng)在各領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用,因此非制冷微測輻射熱計(jì)紅外成像技術(shù)成為今后發(fā)展的重點(diǎn)之一

2、.該文以非制冷微測輻射熱計(jì)紅外成像系統(tǒng)為研究對象,從焦平面特性、驅(qū)動電路、溫控電路、非均勻性的測試和校正等方面展開了討論.各章具體內(nèi)容如下:第一章綜述紅外探測技術(shù)、紅外熱成像技術(shù)和紅外焦平面陣列非均勻性校正的發(fā)展概況,提出了國內(nèi)非制冷紅外熱成像系統(tǒng)研制方面的問題,闡述了該文的研究背景.第二章根據(jù)微測輻射熱計(jì)工作原理分析了微測輻射熱計(jì)焦平面制作流程,建立了微測輻射熱計(jì)工作的熱平衡方程,并將評價(jià)焦平面性能的指標(biāo)進(jìn)行定義說明,最后介紹了SOF

3、RADIR公司的320×240微測輻射熱計(jì)芯片的性能.第三章重點(diǎn)介紹了微測輻射熱計(jì)焦平面驅(qū)動電路的研制.采用Altera公司的CPLD器件設(shè)計(jì)時(shí)序電路,以實(shí)現(xiàn)電路的小型化.采用VHDL語言進(jìn)行設(shè)計(jì),便于在試制過程中對電路的邏輯進(jìn)行修改.第四章重點(diǎn)介紹了微測輻射熱計(jì)焦平面溫控電路的研制,首先討論了熱電制冷的原理,提出了微測輻射熱計(jì)焦平面溫控電路的設(shè)計(jì)方法.第五章首先就微測輻射熱計(jì)焦平面非均勻性產(chǎn)生原因和特征進(jìn)行了討論,對現(xiàn)有的幾種焦平面非