存儲陣列兼容性測試的研究.pdf

1、近年來，隨著信息技術的發(fā)展，數(shù)據存儲量持續(xù)增長。專家們認為，目前信息技術已經進入以存儲為核心的發(fā)展階段。隨著存儲軟硬件規(guī)模的擴大，存儲設備的兼容性問題成為目前用戶最關心的問題。存儲產品兼容性測試的需求日益突出。 當前對存儲兼容性測試進行研究，有助于對存儲兼容性測試進行全面了解，提升存儲兼容性測試的質量。兼容性測試雖然無法做到完全的質量保證，但兼容性測試是存儲產品測試必不可少的重要步驟之一。因此，對存儲產品來說，忽視其兼容性測試，

2、必將會導致用戶在使用時因兼容性出現(xiàn)故障的概率較高。所以，如何在有限的成本和資源考慮下，針對產品規(guī)劃出適當?shù)募嫒菪詼y試，是所有兼容性測試技術人員關注的重點。 本文在“存儲解決方案與兼容性測試”項目的支持下，對存儲基本兼容性和vxVM兼容性測試進行了詳細設計與實現(xiàn)，并提出了兩種快速有效的故障診斷策略。本文的主要研究內容如下： (1)針對存儲產品的應用特點，分析了其兼容性測試需求，制定了基本兼容性測試用例設計框架，并使用配對組

3、合覆蓋技術設計了基本兼容性的測試案例。該方法可生成最小組合覆蓋測試案例集，從而大大降低測試成本，提高測試效率。 (2)針對存儲兼容性測試缺陷定位難的問題，提出了兩種故障診斷策略。一種是基于最小組合覆蓋集的故障診斷策略，適用于多個案例發(fā)生同種故障的情形；一種是基于模糊聚類的故障診斷策略，可以充分利用歷史上的測試數(shù)據來進行快速的故障診斷定位。 (3)實例分析存儲基本兼容性測試，根據問題的嚴重程度對測試結果進行統(tǒng)計分析，實驗證