JTAG的分析和研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，電路板測試技術(shù)也出現(xiàn)了重大變革，一項新的電路板PCB板上的IC之間的互連測試技術(shù)在20世紀(jì)末誕生并且得到了迅速廣泛的應(yīng)用。這項測試技術(shù)就是IEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)，又稱JTAG規(guī)范規(guī)定的邊界掃描測試技術(shù)，JTAG規(guī)范不僅推動了可測性設(shè)計的發(fā)展，大大降低了電路板測試的成本和時間，而且為芯片內(nèi)部寄存器提供了一種方便有效的“下載”和“讀取”方式。 JTAG即IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)，只需5根引腳就可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的傳

2、輸功能，它不但能測試各種集成電路芯片，也能測試芯片內(nèi)各類宏單元，還能測試相應(yīng)的印刷板電路。 本文詳細(xì)的對JTAG進(jìn)行了分析和研究。首先介紹了可測性發(fā)展和邊界掃描技術(shù)，以及JTAG與IEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)。接著對JTAG原理和結(jié)構(gòu)進(jìn)行了詳細(xì)的說明，對JTAG中TAP控制器的狀態(tài)機(jī)進(jìn)行了分析，又詳細(xì)說明了JTAG寄存器及指令。最后對JTAG中TAP控制器進(jìn)行RTL級建模和仿真，并對JTAG指令做了分析。 本文的特點(diǎn)是緊扣IE