微波管陰極可靠性試驗數(shù)據(jù)處理與壽命分析.pdf

1、隨著微波管器件在日常生活、通信、軍事、國防等各個領(lǐng)域的應(yīng)用不斷擴大，對微波管寬頻帶、高增益、長壽命、高可靠性的要求也越來越高?？煽啃詤?shù)是決定微波管陰極實用化的重要性能參數(shù)。作為微波管的核心部件之一，陰極可靠性對微波管可靠性有著重要影響，相關(guān)可靠性試驗可以為微波管可靠性評估提供很重要的信息。目前，現(xiàn)有的陰極壽命預(yù)測方法多基于給定溫度下陰極發(fā)射能力衰退規(guī)律來預(yù)測壽命，其溫度的測量過程比較復(fù)雜或?qū)﹃帢O工作狀態(tài)有影響。本文主要介紹了一種利用電

2、信號參數(shù)取代溫度參數(shù)來進行陰極壽命預(yù)測的模型。利用此模型可以方便地對數(shù)據(jù)進行在線分析，且獲取試驗數(shù)據(jù)所需的檢測成本比較低。
　　首先，本文對可靠性預(yù)計方法和可靠性數(shù)據(jù)分析技術(shù)進行了調(diào)研，總結(jié)目前的可靠性試驗數(shù)據(jù)的基本分析方法，給出了分析可靠性數(shù)據(jù)的理論框架。接著，在半經(jīng)驗陰極壽命預(yù)測模型的基礎(chǔ)上，本文提出了基于電參量的壽命預(yù)測模型，并且給出了基本的數(shù)據(jù)處理方法。然后，本文對現(xiàn)有的微波管可靠性試驗數(shù)據(jù)進行了處理和分析，包括進行了陰極