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文檔簡介
1、本文采用氬弧熔覆技術(shù),以Si粉和Ti(Zr)粉為原料在石墨電極表面分別制備出C-Si、C-Si-Ti和C-Si-Zr抗氧化復(fù)合涂層。利用掃描電鏡、能譜儀和X-射線衍射儀分別對復(fù)合涂層的微觀組織結(jié)構(gòu)和涂層中的物相組成進(jìn)行了分析。在最佳工藝下制備的涂層表面均具有金屬光澤,且平整光滑,涂層與基體之間結(jié)合性好、無明顯缺陷。在1100℃和1300℃兩個不同溫度條件下,分別對C-Si-Ti和C-Si-Zr復(fù)合涂層的抗氧化性能進(jìn)行了測試,并對這兩種涂
2、層的氧化機(jī)理進(jìn)行了分析。
試驗(yàn)結(jié)果表明:以Si粉為原料制備的C-Si復(fù)合涂層,熔覆層中物相為Si和SiC,熔覆層與基體緊密結(jié)合,無明顯缺陷。以C-Si復(fù)合涂層為過渡層,在其表面制備的C-Si-Ti復(fù)合涂層,熔覆層主要由Ti5Si3、TiSi2和TiSi組成,在1100℃下氧化生成自愈合性SiO2-TiO2氧化膜,其能封閉住涂層中存在的孔隙和裂紋,使得氧化膜組織致密均勻,能很好的阻斷氧元素向涂層內(nèi)部的擴(kuò)散,但在1300℃下氧化,
3、氧化膜組織受到嚴(yán)重的熱侵蝕,表面氧化膜開始出現(xiàn)失效現(xiàn)象,導(dǎo)致涂層抗氧化能力下降。以C-Si復(fù)合涂層為過渡層,在其表面制備的C-Si-Zr復(fù)合涂層,熔覆層主要由SiC、ZrSi2和ZrSi組成,C-Si-Zr復(fù)合涂層在1100℃和1300℃下氧化10h質(zhì)量變化速率分別為0.866mg/(mm2·h)和0.934mg/(mm2·h),SiO2-ZrO2在涂層內(nèi)部的增加數(shù)量比較緩慢,其氧化物體積的緩慢增加可以導(dǎo)致氧化膜中應(yīng)力松弛,有利于抗氧化
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