塵土對(duì)電接觸影響的測(cè)試方法研究.pdf

1、電接觸故障在電子設(shè)備中大量存在，其中大部分都與大氣中的塵土顆粒有關(guān)。對(duì)失效通訊終端產(chǎn)品中觸點(diǎn)的初步研究發(fā)現(xiàn)多于65％的接觸表面被塵土污染，近50％的接觸表面在接觸區(qū)形成污染物聚集區(qū)。大氣中懸浮的塵土顆粒隨著連接器的不斷插拔進(jìn)入接觸區(qū)域，進(jìn)而產(chǎn)生電接觸的可靠性隱患。所以研究塵土顆粒對(duì)電接觸可靠性的影響具有很重要的現(xiàn)實(shí)意義。 通過(guò)測(cè)量有顆粒存在時(shí)接觸對(duì)之間的電阻值，研究塵土對(duì)接觸電阻的影響。這需要首先解決塵土顆粒的觀察定位問(wèn)題，即如

2、何準(zhǔn)確將觸頭移動(dòng)到目標(biāo)塵土顆粒上。本論文針對(duì)塵土顆粒和接觸區(qū)尺寸小的特點(diǎn)，選定了一套微型顯微鏡觀察系統(tǒng)，有效解決了塵土顆粒的觀察和定位問(wèn)題。通過(guò)理論計(jì)算得出該系統(tǒng)在實(shí)際使用中能達(dá)到放大率120倍、分辨率6μm、景深23.2μm、視場(chǎng)角10度。 本論文進(jìn)而研究了在精密再定位接觸電阻測(cè)試儀上借助微型顯微鏡系統(tǒng)進(jìn)行塵土顆粒定位的過(guò)程，并在此基礎(chǔ)上總結(jié)了一套研究塵土顆粒對(duì)靜態(tài)接觸電阻影響的測(cè)試方法和詳細(xì)步驟，并對(duì)其中的塵土顆粒選用原則、

3、揚(yáng)塵方法等方面進(jìn)行了深入探討，為不同尺寸顆粒對(duì)靜態(tài)接觸電阻影響課題的深入研究奠定基礎(chǔ)。 研究塵土顆粒對(duì)動(dòng)態(tài)接觸電阻影響時(shí)存在一個(gè)危險(xiǎn)尺寸，處于危險(xiǎn)尺寸范圍內(nèi)的顆粒即使密度不大也可能對(duì)接觸可靠性造成影響。本論文討論了如何利用微動(dòng)模擬設(shè)備和微型顯微鏡系統(tǒng)進(jìn)行試驗(yàn)，驗(yàn)證各種不同接觸材料的危險(xiǎn)尺寸，給出了試驗(yàn)方法和流程，并進(jìn)行了必要的試驗(yàn)驗(yàn)證。 微型顯微鏡系統(tǒng)使接觸對(duì)周?chē)⑿m土顆粒分布的實(shí)時(shí)觀測(cè)成為可能。無(wú)論將其運(yùn)用在靜態(tài)接觸