半導(dǎo)電聚合物表面突起測(cè)量?jī)x的研究.pdf

1、半導(dǎo)電屏蔽材料是中高壓電力電纜必須的配套材料，一般認(rèn)為半導(dǎo)電屏蔽層起到均勻電場(chǎng)的作用。長(zhǎng)期運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)說(shuō)明半導(dǎo)電屏蔽層對(duì)電纜使用壽命有較大關(guān)系。半導(dǎo)電層突起會(huì)引起局部放電的發(fā)生，這些對(duì)電纜有潛在影響。
　　 本文以半導(dǎo)電聚合物為檢測(cè)對(duì)象，研究了適合于表面突起檢測(cè)的技術(shù)，分別利用線結(jié)構(gòu)光原理和形態(tài)學(xué)處理方法進(jìn)行分析，有效的提取突起的尺寸信息，基本完成對(duì)半導(dǎo)電聚合物表面突起的檢測(cè)。
　　 本文利用線結(jié)構(gòu)光原理對(duì)突起進(jìn)行了相關(guān)實(shí)驗(yàn)

2、，以面陣CCD(Charge-coupledDevice)為核心器件，搭建了基于線結(jié)構(gòu)光測(cè)量系統(tǒng)，對(duì)激光條紋圖像進(jìn)行分析處理。根據(jù)圖像直方圖特性分割突起條紋，得到激光條紋光帶，并且設(shè)計(jì)了幾種提取激光條紋中心的方法，通過(guò)對(duì)比分析，灰度重心法和曲線擬合法適合條紋中心的提取。然而，由于現(xiàn)有的激光器的技術(shù)指標(biāo)，鏡頭的分辨率限制無(wú)法達(dá)到測(cè)量的要求，實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證此方法達(dá)不到預(yù)期檢測(cè)。通過(guò)對(duì)突起的形狀特點(diǎn)分析，提出了一種利用形態(tài)學(xué)的模糊檢測(cè)方法，將線激光