用戶識(shí)別模塊的測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、移動(dòng)通信業(yè)務(wù)的飛速發(fā)展，使得通信安全方面的需求愈發(fā)重要，應(yīng)用在通信領(lǐng)域的智能卡——用戶識(shí)別模塊(SIM)應(yīng)運(yùn)而生。3G時(shí)代的用戶識(shí)別模塊——USIM卡將逐漸向多應(yīng)用平臺(tái)過(guò)渡，使智能卡技術(shù)在移動(dòng)通信領(lǐng)域發(fā)揮出更加重要的作用。 筆者所在的項(xiàng)目組一直致力于SIM和USIM卡的測(cè)試技術(shù)研究及工具開(kāi)發(fā)。筆者在攻讀碩士期間，參加了大唐微電子公司的合作項(xiàng)目“SIM/USIM卡綜合測(cè)試平臺(tái)開(kāi)發(fā)”。依托項(xiàng)目的資助，本文以用戶識(shí)別模塊的測(cè)試技術(shù)為研

2、究對(duì)象，通過(guò)理論分析和工程實(shí)現(xiàn)，取得了如下成果： 1．簡(jiǎn)要分析了用戶識(shí)別模塊的基本知識(shí)和測(cè)試技術(shù)，并為其設(shè)計(jì)了基于生命周期的測(cè)試流程模型，實(shí)現(xiàn)了制造過(guò)程與測(cè)試步驟的緊密連接。 2．探討了用戶識(shí)別模塊的芯片及COS測(cè)試。針對(duì)芯片的wafer和封裝測(cè)試，分別設(shè)計(jì)了測(cè)試方案；基于COS測(cè)試的內(nèi)容、環(huán)境等，提出了增量測(cè)試方法和自動(dòng)化測(cè)試模型。 3．深入分析了用戶識(shí)別模塊的標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議，對(duì)SIM卡的協(xié)議一致性測(cè)試內(nèi)容和方法進(jìn)行