數(shù)字專用集成電路檢測技術(shù)的研究及信號發(fā)生器的設(shè)計.pdf

1、本文主要討論了數(shù)字專用集成電路的檢測.對專用集成電路研制的必要性、功能以及專用集成電路的國內(nèi)外現(xiàn)狀進行了較為詳細的介紹.文中提出了一種模擬數(shù)字混合、計算機人機交互的檢測方法,建立了ASIC芯片的檢測方案.在檢測系統(tǒng)設(shè)計部分討論了如適配器的設(shè)計、頻率檢測模塊的設(shè)計等,同時對檢測系統(tǒng)的軟件進行了分析設(shè)計.在檢測部分對集成電路的檢測作了說明,利用設(shè)計的檢測系統(tǒng)按照檢測步驟對專用集成電路的全部參數(shù)成功進行了檢測.為了提高使用的可靠性同時將檢測功

2、能正確的芯片進行了老化試驗,并作了可靠性的理論分析.文中還介紹了數(shù)字專用集成電路在存儲測試領(lǐng)域的應(yīng)用.對利用專用集成電路的存儲測試系統(tǒng)進行了包括電荷放大器、模擬濾波器、電路抗干擾等的設(shè)計.采用兩種專用集成電路HB0201與HB0202設(shè)計的存儲測試系統(tǒng)能獨立地完成動態(tài)數(shù)據(jù)采集與存儲記憶,能在多種惡劣環(huán)境及高難度的存儲測試環(huán)境中使用.專用集成電路的使用減小了測試裝置體積,降低了系統(tǒng)功耗,提高了測試系統(tǒng)的可靠性.HB0201與HB0202的