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1、35kV及以下電壓等級(jí)金屬成套開關(guān)設(shè)備廣泛應(yīng)用于各個(gè)變電站,這些開關(guān)設(shè)備能否安全可靠地運(yùn)行,決定了供電的合格率和可靠性。電氣設(shè)備在長(zhǎng)期運(yùn)行中必然存在電的、熱的、化學(xué)的及異常狀況下形成的絕緣劣化,導(dǎo)致電氣絕緣強(qiáng)度降低,甚至發(fā)生故障。近年來(lái)許多突發(fā)事故,多是局部放電所致。因此研究測(cè)試電氣設(shè)備的局部放電特征是目前預(yù)防電氣設(shè)備故障的一種最佳方法。
長(zhǎng)期以來(lái),運(yùn)用預(yù)防性局部放電試驗(yàn)來(lái)診斷設(shè)備的絕緣狀況起到了很好的效果,但由于預(yù)防性試
2、驗(yàn)周期的時(shí)間間隔可能較長(zhǎng),很難發(fā)現(xiàn)在兩次預(yù)防性試驗(yàn)時(shí)間間隔之間發(fā)展的缺陷,這都容易造成絕緣不良事故?,F(xiàn)場(chǎng)設(shè)備進(jìn)行局部放電測(cè)量較為困難且費(fèi)用較高,停電對(duì)每臺(tái)設(shè)備進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)是不現(xiàn)實(shí)的,因此有必要研究一種可靠的方式來(lái)針對(duì)帶電運(yùn)行的開關(guān)柜進(jìn)行局部放檢測(cè)技術(shù)。
本文在研究開關(guān)設(shè)備局部放電特征的基礎(chǔ)上,利用檢測(cè)局部放電發(fā)生時(shí)產(chǎn)生的暫態(tài)對(duì)地電壓信號(hào)來(lái)判別局部放電的大小,通過(guò)擴(kuò)展卡爾曼濾波算法對(duì)局部放電進(jìn)行定位,并采用DSP芯片為核心
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