多狀態(tài)技術(shù)在信號(hào)源駐波比測(cè)量中的應(yīng)用研究.pdf

1、本文主要介紹了多狀態(tài)技術(shù)的基本理論并成功將其應(yīng)用于信號(hào)源駐波比的精確測(cè)量。信號(hào)源是為微波測(cè)試系統(tǒng)提供測(cè)試信號(hào)的儀器，是微波測(cè)試系統(tǒng)的重要部件。信號(hào)源駐波比是信號(hào)源反射系數(shù)幅值的另外一種表達(dá)形式，描述的是信號(hào)源與測(cè)試系統(tǒng)中其它微波器件之間的匹配程度。信號(hào)源駐波比的精確測(cè)量能夠提高我們對(duì)信號(hào)源認(rèn)識(shí)的準(zhǔn)確度，提高整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的可信度。
　　信號(hào)源駐波比的傳統(tǒng)測(cè)量方法包括測(cè)量線(xiàn)法、標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀法、六端口測(cè)試法等，它們?cè)趯?shí)際的工程應(yīng)用中都

2、發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，卻都很難做到精確測(cè)量。多狀態(tài)技術(shù)是在六端口技術(shù)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，它不僅能夠?qū)崿F(xiàn)信號(hào)源駐波比的精確測(cè)量，更能得到信號(hào)源反射系數(shù)的矢量信息，具有測(cè)試精度高、周期短、電路簡(jiǎn)單、成本低等優(yōu)點(diǎn)。
　　本論文來(lái)源于中國(guó)電子科技集團(tuán)第四十一研究所電子測(cè)試技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的前沿技術(shù)研究。本文在理論基礎(chǔ)上搭建合適的信號(hào)源駐波比測(cè)試電路，并進(jìn)行了大量的測(cè)試實(shí)驗(yàn)。論文對(duì)測(cè)試原理及測(cè)試電路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明與闡述，對(duì)測(cè)試原理