壓力陶瓷的內(nèi)應(yīng)力分析和極化模擬.pdf

1、本論文主要研究了極化和內(nèi)應(yīng)力對(duì)壓電陶瓷的居里溫度和壓電性能的影響和熱應(yīng)力對(duì)納米陶瓷強(qiáng)度的影響。
　　 從建立物理模型為出發(fā)點(diǎn)，討論了應(yīng)力和極化對(duì)陶瓷性能的影響。分析了在單向極化和掃描極化條件下，本征效應(yīng)對(duì)四方相壓電陶瓷壓電系數(shù)的影響。主要討論了電疇轉(zhuǎn)向分布和陶瓷的壓電系數(shù)。在單向極化下陶瓷的電疇轉(zhuǎn)向分布只有一種情況，但是在掃描極化下電疇轉(zhuǎn)向分布根據(jù)陶瓷參數(shù)A((d31+d15)/d33)的不同分為五種情況，即A≤3，3

2、2√3，A=3+2√3，3+2√3

3、相陶瓷材料的壓電系數(shù)d33隨著ZrO2體積百分比的變化。
　　 同時(shí)，建立了內(nèi)晶型Al2O3-SiC納米陶瓷殘余應(yīng)力的理論模型。使用這個(gè)模型，我們計(jì)算了由于納米顆粒SiC引起的在Al2O3基體顆粒邊界處的平均壓應(yīng)力和Al2O3基體顆粒內(nèi)部的平均拉應(yīng)力。垂直于Al2O3基體顆粒邊界處的平均壓應(yīng)力使邊界強(qiáng)度增強(qiáng)而Al2O3基體顆粒內(nèi)部的平均拉應(yīng)力使顆粒強(qiáng)度減弱。這個(gè)模型對(duì)內(nèi)晶型Al2O3-SiC納米陶瓷的強(qiáng)度隨著納米顆粒SiC體積的