利用電致發(fā)光檢測晶硅太陽電池特性及電致發(fā)光法測定晶硅太陽電池少子壽命.pdf

1、太陽能作為新能源目前得到了國際的極大重視,以晶硅太陽電池為主的光伏行業(yè)正在快速蓬勃的發(fā)展之中,在技術水平和生產(chǎn)工藝不斷進步的今天,對于太陽電池片以及組件的質量要求越來越高,而隨著生產(chǎn)技術的日趨自動化,集成化和規(guī)模化,電池片和組件中的缺陷也越來越復雜,對于光伏產(chǎn)品的影響也變得越來越大。所以,對于太陽電池片以及組件進行檢測和特性測量具有十分重要的意義。
　　本文著重對利用電致發(fā)光檢測晶硅太陽電池中的缺陷和特性以及對利用電致發(fā)光技術測定

2、晶硅太陽電池少子壽命進行了研究。利用電致發(fā)光技術,可以快速準確地檢測晶硅太陽電池中存在的隱裂、斷柵、黑片、燒結污染和工藝污染等問題。而對太陽電池組件的檢測可以找出組件中存在的虛焊、短路、電池片不均等問題。進一步地,我們在對傳統(tǒng)晶硅太陽電池缺陷的檢測基礎上,結合多種檢測方法,對磷墨印刷SE電池的電致發(fā)光進行了討論和分析,通過檢測可以證明SE電池可以提高短波響應,減小柵線接觸電阻,提高短路電流和開路電壓從而提高太陽電池效率,也驗證了電致發(fā)光

3、技術檢測太陽電池缺陷的準確性。
　　同時討論了利用電致發(fā)光量化測定晶硅太陽電池特性的研究,通過理論推導和計算得到了晶硅太陽電池電致發(fā)光強度與少子壽命的關系,討論了晶硅太陽電池電致發(fā)光的影響因素,結合準穩(wěn)態(tài)光電流衰減法測量得出的實驗數(shù)據(jù),與一系列太陽電池的性能參數(shù)和電致發(fā)光強度進行比較,探究了電致發(fā)光法測定晶硅太陽電池少子壽命的方法并利用實驗進行了驗證,實驗證明此方法可以有效的測定晶硅太陽電池的少子壽命且準確率較高,同時所耗時間大大

4、縮短,可以在10秒的時間內得到太陽電池少子壽命的具體數(shù)值,而且可以利用此方法測定晶硅太陽電池少子壽命的面分布,測定電池某點或某個區(qū)域的少子壽命數(shù)值。對比目前普遍使用的微波光電導衰退法,此種方法能夠快速、穩(wěn)定、準確地測定晶硅太陽電池的少子壽命,適合大規(guī)模生產(chǎn)的需要,具有推廣的價值。
　　本文的意義在于提出了一種快速測定晶硅太陽電池少子壽命的方法,并將其測試時間縮減到了10秒以內的水平,對于目前抽檢的測試方法,可以將其應用到工業(yè)化生產(chǎn)