版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、高溫壓電晶體及傳感器件在航空航天、核電能源、石油勘測和化學(xué)工業(yè)等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用,但目前商業(yè)化的石英、鈮酸鋰等晶體,由于高溫介電和壓電性能不穩(wěn)定,難以滿足實際應(yīng)用需求。硅酸鎵鑭(La3Ga5SiO14,LGS)構(gòu)型晶體具有較高的熔點(1450℃~1510℃),室溫到熔點無相變、硬度適中、容易生長,是一類重要的高溫壓電晶體材料。在LGS構(gòu)型晶體當(dāng)中,結(jié)構(gòu)有序的Ca3TaGa3Si2O14(CTGS)晶體擁有較高的電阻率和機械品質(zhì)因子,綜
2、合性能較同構(gòu)型其它晶體更為優(yōu)良,因此有著光明的應(yīng)用前景。為探討該晶體在高溫壓電傳感技術(shù)中的應(yīng)用,本論文研究了CTGS晶體的坩堝下降法生長工藝,嘗試了壓電振動傳感元器件的研制。主要的研究工作和結(jié)果如下:
(1)設(shè)計了CTGS晶體生長用雙溫區(qū)坩堝下降爐,通過調(diào)整發(fā)熱體(硅鉬棒)在爐腔內(nèi)的放置,獲得了適合CTGS單晶生長的溫梯結(jié)構(gòu),縱向溫度梯度10~20℃/cm。
(2)通過改進多晶制備工藝,獲得了物相單一的CTGS多晶原
3、料,提高了單晶生長質(zhì)量。研究并獲得了適合CTGS單晶生長的工藝制度:晶體放肩速率0.25mm/h,晶體等徑生長速率0.35mm/h。沿X方向成功生長了質(zhì)量良好的CTGS晶體,尺寸為Φ25mm×80mm。沿Y和Y偏-Z軸30°方向(記作Y(-30°)方向)分別生長了尺寸為Φ25mm×60mm和Φ25mm×50mm的CTGS晶體,但晶體質(zhì)量有待提高。
(3)研究并表征了晶體的生長質(zhì)量和生長缺陷。通過高分辨X射線衍射技術(shù)測量了晶體內(nèi)
4、部不同位置的搖擺曲線,結(jié)果顯示,所生長的CTGS晶體具有良好的搖擺曲線峰形,半峰寬數(shù)值小于50",說明晶體內(nèi)部沒有孿晶界,晶格完整度較高。利用掃描電鏡EDS分析了晶體表面的元素比例,結(jié)果表明在晶體表面缺陷處存在Ca元素的缺失和O元素的富集,認(rèn)為與晶體生長過程中微小氣泡的聚集有關(guān)。利用X射線光電子能譜(XPS)分析了晶體尾部的晶區(qū)和雜質(zhì)區(qū)的元素變化。結(jié)果表明,尾部晶區(qū)中存在Ta元素的富集和Ga元素的缺失,而尾部雜質(zhì)區(qū)中存在Ga和Si元素的
5、缺失,分析認(rèn)為Ga元素的揮發(fā)導(dǎo)致了晶區(qū)和雜質(zhì)區(qū)Ga元素含量的偏離。
(4)利用阻抗法研究了生長晶體的介電、彈性、機電耦合系數(shù)和壓電常數(shù)的溫度依賴性,以及特殊晶體切型的頻率溫度特性。研究表明,坩堝下降法生長的晶體不同部位的晶體切型隨溫度變化一致,表明晶體整體電彈性能均一穩(wěn)定。在室溫到900℃范圍內(nèi),介電常數(shù)εT11、彈性柔順系數(shù)sE22、機電耦合系數(shù)k12和壓電系數(shù)d12均隨溫度升高而逐漸升高,其中k12變化率<30%,d12變
6、化率<21%。特別地,當(dāng)溫度高于600℃時晶體的介電損耗明顯增加(>5%)。與提拉法生長的晶體相比,下降法生長的晶體在介電性能上差異較大,其介電常數(shù)隨溫度升高至600℃以后逐漸增加,900℃變化率為12%,而提拉法介電常數(shù)變化率更加穩(wěn)定<4%。并且600℃之后下降法生長的晶體介電損耗增加較快,900℃損耗為2.3,相比之下,提拉法生長的CTGS晶體介電損耗較小僅為0.8,我們認(rèn)為這與晶體生長質(zhì)量有關(guān)。對沿特殊方向Y(-30°)生長的CT
7、GS晶體,進行了頻率溫度依賴性測試。結(jié)果表明,垂直于生長方向加工的壓電晶片,其頻率溫度拐點出現(xiàn)在250℃附近,一階頻率溫度系數(shù)為17ppm/℃,二階頻率溫度系數(shù)為-38ppb/℃2,與提拉法生長晶體的YXl(-30°)晶片的測試結(jié)果相一致,從而確定得到的CTGS晶體是沿Y偏-Z軸30°進行生長的,沒有發(fā)生角度的偏離。
(5)基于對CTGS晶體電彈性能研究,設(shè)計了壓縮式和剪切式振動傳感器原型器件,利用搭建的高溫振動測試平臺,測試
8、了器件在室溫到200℃、10~1000Hz范圍內(nèi)的振動傳感性能。在100Hz、500Hz和1000Hz條件下,測得壓縮式振動傳感器件的靈敏度分別為0.36±0.03pC/g、0.36±0.03pC/g和0.32±0.02pC/g;剪切式傳感器件的靈敏度分別為0.44±0.02pC/g、0.45±0.02pC/g和0.46±0.02pC/g,在室溫到200℃范圍內(nèi),壓縮式和剪切式振動傳感器件的靈敏度變化率分別低于8.5%和4.5%。說明剪
9、切式傳感器件具有比壓縮式傳感器件更好的溫度穩(wěn)定性。結(jié)合對CTGS電彈性能的測試結(jié)果,我們認(rèn)為,壓電常數(shù)d11的溫度漂移是造成壓縮式傳感器靈敏度變化的主要原因。通過計算熱靈敏度漂移,得到在100Hz條件下,壓縮式振動傳感器的熱靈敏度漂移最大為0.1%,剪切式振動傳感器熱靈敏度漂移最大為0.02%,表現(xiàn)了良好的靈敏度溫度穩(wěn)定性。整個溫度范圍內(nèi),壓縮式振動傳感器的非線性誤差最大為3.5%,剪切式傳感器的非線性誤差最大為3.2%。綜合來看,剪切
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 閃爍單晶znwo4的坩堝下降法生長【開題報告】
- 閃爍單晶znwo4的坩堝下降法生長【文獻綜述】
- 閃爍單晶znwo4的坩堝下降法生長【畢業(yè)設(shè)計】
- 閃爍單晶znwo4的坩堝下降法生長【開題報告+文獻綜述+畢業(yè)論文】
- 鈮酸鋰及其摻雜晶體的坩堝下降法生長.pdf
- Re3+摻雜氟化物激光晶體的坩堝下降法生長研究.pdf
- 冷坩堝電磁冶金基礎(chǔ)研究.pdf
- 多次壓電效應(yīng)探析及在傳感執(zhí)行器上的應(yīng)用基礎(chǔ)研究.pdf
- CNGS和CTGS晶體的生長及性能研究.pdf
- U型坩堝上升法生長碘化鉛單晶體.pdf
- 貴金屬納米顆粒的制備、自組裝及其生化傳感應(yīng)用基礎(chǔ)研究.pdf
- 光纖微結(jié)構(gòu)對應(yīng)力及振動的傳感應(yīng)用.pdf
- 壓電基因傳感器基礎(chǔ)及應(yīng)用研究.pdf
- 單晶爐坩堝內(nèi)對流問題的研究.pdf
- 磁感應(yīng)斷層成像基礎(chǔ)研究.pdf
- 金納米殼的生物催化生長及傳感應(yīng)用研究.pdf
- 正交相鉭鈮酸鉀鈉單晶的生長及壓電特性研究.pdf
- 基于壓電單晶的壓電復(fù)合換能器研究及其應(yīng)用.pdf
- 語法分析程序遞歸下降法
- 牛頓法與最速下降法
評論
0/150
提交評論