CSTN LCD臺階縫電極腐蝕研究與控制.pdf

1、電極腐蝕對于LCD產(chǎn)品而言是一種致命缺陷,具體表現(xiàn)為無顯、亂顯或缺劃,往往從問題發(fā)生到顯現(xiàn)需要經(jīng)過比較長的潛伏期,而且無有效手段對此種缺陷進(jìn)行篩選,這意味著一旦發(fā)生問題,就需要對批量產(chǎn)品進(jìn)行處理,并且產(chǎn)品很有可能已經(jīng)到了客戶甚至終端客戶處,從而帶來巨大的影響和損失。
　　隨著顯示分辨率和驅(qū)動路數(shù)的增加,LCD的電極趨于更細(xì),而電壓趨于更高,這種情況增加了產(chǎn)品發(fā)生電極腐蝕的機(jī)會。
　　在分析電極腐蝕形成機(jī)理的基礎(chǔ)上，本文針對C

2、STN臺階縫電極腐蝕問題進(jìn)行研究和控制。首先從CSTN的設(shè)計(jì)和相關(guān)制造工藝流程入手,針對造成LCD電極腐蝕的三大關(guān)鍵要素:電,電解雜質(zhì),水,分析控制的可行性,從而找出改善方向。
　　然后,本文根據(jù)前述改善方向的分析,從保護(hù)電極、污染物對比、清洗工藝、包裝方式和水分控制方面進(jìn)行了單一因素的試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)。
　　隨后,針對CSTN臺階縫電極腐蝕問題,本文在艾琳模型的基礎(chǔ)上，建立了一個溫濕度雙應(yīng)力的加速壽命試驗(yàn)?zāi)Ｐ?并且通過實(shí)際試驗(yàn)

3、數(shù)據(jù),計(jì)算出濕度和溫度加速因子。運(yùn)用此模型,結(jié)合假設(shè)檢驗(yàn)的理論,推算出加速壽命試驗(yàn)需要的時間,作為評估改進(jìn)效果的依據(jù)。在得到的初步結(jié)論基礎(chǔ)上，又安排綜合試驗(yàn)設(shè)計(jì)進(jìn)行了再次驗(yàn)證評估。
　　根據(jù)評估驗(yàn)證的結(jié)果,本文提出了針對CSTN臺階縫電極腐蝕問題的改進(jìn)控制方法,即將CSTN LCD寬玻璃的TOP延展至覆蓋臺階縫,從而保護(hù)ITO電極。通過水煮試驗(yàn)證明其對CSTN LCD產(chǎn)品可靠性不會造成負(fù)面影響。
　　最后,將這種改進(jìn)控制方法