場地因素對天線系數(shù)測量影響的修正研究.pdf

1、電磁兼容天線的天線系數(shù)是電磁兼容測試里最基本的測量參量之一。所有電磁兼容實驗室測試使用的電磁兼容天線每年必須經(jīng)過天線系數(shù)的校準測量。因此，天線系數(shù)的修正研究具有重要的理論意義和實用價值。 開闊實驗場和半電波暗室是國際標準規(guī)定的進行天線系數(shù)測量的場地。在開闊實驗場或半電波暗室中測量天線系數(shù)時會由于場地本身原因或周圍障礙物原因?qū)⒎瓷涓蓴_信號帶入測量結果，令天線系數(shù)測量值不準確。本文以場地因素對天線系數(shù)測量的影響為研究重點，主要進行了

2、消除場地因素引起的反射干擾從而修正天線系數(shù)的研究工作。 作者首先對開闊實驗場場地寬度不足對天線系數(shù)測量的影響展開研究。文章一方面對開闊試驗場費涅爾區(qū)范圍和場地邊沿終止影響進行了理論上的分析，另一方面選擇以矩量法為基礎的電磁場仿真軟件建立了雙錐天線模型，用此模型對天線在理想開闊實驗場、10m標準開闊實驗場和現(xiàn)有的寬度不足的開闊實驗場進行仿真。最后，得出了場地寬度不足對不同頻率、不同極化方式測量的影響程度。 作者還用時域分析

3、的方法，對開闊實驗場和半電波暗室的反射干擾情況進行了分析。明確了在開闊實驗場和半電波暗室中測量接收信號中各個反射干擾信號的來源，從而為能剔除干擾奠定了基礎。 最后作者研究了怎樣通過時域門的手段對場地因素引入的干擾進行剔除。在開闊實驗場和半電波暗室兩種情況下，對不加時域門和加入時域門進行了不同設置下的天線系數(shù)對比測量。測量結論證明了加入時域門能有效去除由場地因素引起的反射干擾，對天線系數(shù)測量結果，特別是在垂直極化下的測量結果，有明