RFID中多標(biāo)簽防碰撞技術(shù)的研究.pdf

1、在用于無(wú)線通信領(lǐng)域的超高頻遠(yuǎn)距離自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)中，已開始應(yīng)用EPCGEN2(第二代電子物品編碼)讀寫器。在EPCGEN2讀寫器的設(shè)計(jì)中，多電子清點(diǎn)中的標(biāo)簽防碰撞算法是一個(gè)重要的環(huán)節(jié)。EPCGEN2的多標(biāo)簽防碰撞算法主要有兩項(xiàng)參考指標(biāo)：可靠性和效率。而在整個(gè)防碰撞算法中，Q值的確定則是最為關(guān)鍵的一環(huán)。在現(xiàn)有的已公開的算法中，有兩類比較普遍的算法：第一類，c參數(shù)可變的隨機(jī)幀時(shí)隙算法。該方法Q值通常采用下述流程確定：初始化Q值為4，不斷使用Qu

2、ery命令來(lái)進(jìn)行搜索，根據(jù)有沒有標(biāo)簽應(yīng)答來(lái)對(duì)Q值進(jìn)行加或減。經(jīng)建模分析和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)表明，此類方法在標(biāo)簽數(shù)量過大時(shí)，識(shí)別標(biāo)簽的效率非常低。第二類是動(dòng)態(tài)幀時(shí)隙算法中所用到的標(biāo)簽估計(jì)算法(包括最小值估算法，泊松分布估計(jì)算法，空間點(diǎn)逼近估算法等)，即在每幀結(jié)束后根據(jù)上一幀中標(biāo)簽發(fā)生碰撞的次數(shù)(碰撞時(shí)隙)，成功識(shí)別電子標(biāo)簽的次數(shù)(成功時(shí)隙)和電子標(biāo)簽沒有返回的次數(shù)(空時(shí)隙)來(lái)估計(jì)未被識(shí)別的電子標(biāo)簽數(shù)量，然后據(jù)此選擇最優(yōu)的下一幀的長(zhǎng)度(時(shí)隙的個(gè)數(shù))。

3、經(jīng)建模分析和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)表明，此類方法因?yàn)榭傄谝粠Y(jié)束時(shí)才對(duì)標(biāo)簽的數(shù)目進(jìn)行估計(jì)，不能實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)的跟蹤標(biāo)簽變化而改變Q值。從而造成標(biāo)簽識(shí)別效率不高。 本論文旨在解決現(xiàn)有多電子標(biāo)簽清點(diǎn)方法效率較低的問題，結(jié)合標(biāo)簽數(shù)目估算法和隨機(jī)幀時(shí)隙算法兩類算法的優(yōu)點(diǎn)，進(jìn)行優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)。研究方法：利用有限狀態(tài)機(jī)的原理和matlab/simulink/stateflow中的狀態(tài)機(jī)模型建立標(biāo)簽和閱讀器的通信模型，通過對(duì)兩類主流算法的幾種代表性算法進(jìn)行仿真，找出