基于反匯編技術(shù)的嵌入式軟件缺陷靜態(tài)檢測(cè)研究.pdf

1、隨著微時(shí)代的到來，嵌入式軟件發(fā)展受到廣泛的關(guān)注，但軟件缺陷問題也越來越凸顯。軟件缺陷問題可能會(huì)給社會(huì)帶來經(jīng)濟(jì)等各方面的損失，而且大部分的嵌入式軟件都有高可靠性和高安全性的要求，因此，需要針對(duì)嵌入式軟件進(jìn)行缺陷檢測(cè)。目前，市場(chǎng)上的大部分商業(yè)軟件以二進(jìn)制代碼的形式出現(xiàn)，如何判定二進(jìn)制程序中是否具有安全缺陷是一個(gè)亟待解決的問題。當(dāng)前X86平臺(tái)下的二進(jìn)制代碼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)相對(duì)成熟，而基于嵌入式平臺(tái)（如ARM平臺(tái)）缺陷檢測(cè)系統(tǒng)還不夠成熟。反匯編技術(shù)

2、是基于二進(jìn)制代碼的嵌入式軟件缺陷檢測(cè)工作中的重要一環(huán)，但專門針對(duì)嵌入式軟件缺陷檢測(cè)的反匯編算法和相關(guān)技術(shù)較少。另一方面，與動(dòng)態(tài)分析相比，靜態(tài)分析能夠較全面的覆蓋系統(tǒng)代碼，為動(dòng)態(tài)分析提供相應(yīng)的程序結(jié)構(gòu)，減少了一定的工作量。
　　本文利用反匯編技術(shù)，開展了基于二進(jìn)制代碼的嵌入式軟件缺陷靜態(tài)檢測(cè)研究，主要研究點(diǎn)和創(chuàng)新點(diǎn)在于：
　　1、總結(jié)分析了嵌入式軟件缺陷檢測(cè)方法，對(duì)現(xiàn)有的缺陷檢測(cè)流程進(jìn)行分析總結(jié)，分析了ARM的編碼特點(diǎn)，詳細(xì)闡

3、述了嵌入式軟件缺陷靜態(tài)檢測(cè)方法，包括反匯編、數(shù)據(jù)流分析、控制流分析等。
　　2、設(shè)計(jì)了一個(gè)基于二進(jìn)制代碼的嵌入式軟件缺陷檢測(cè)系統(tǒng)。定義和設(shè)計(jì)了系統(tǒng)的功能模塊，闡述了各個(gè)模塊在該系統(tǒng)的作用和相互之間的聯(lián)系，根據(jù)模塊之間的聯(lián)系提出了該系統(tǒng)的體系結(jié)構(gòu)。
　　3、針對(duì)缺陷檢測(cè)需要解決的主要問題，設(shè)計(jì)了反匯編實(shí)現(xiàn)的總體方案，實(shí)現(xiàn)了靜態(tài)指令分析模塊中的反匯編過程。提出了一種遞歸—線性掃描的反匯編算法，然后，通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了算法的正確性和結(jié)