運放電路分級失真分析的符號化方法與實現(xiàn).pdf

1、運放電路一直是模擬集成電路設計中最基本的模塊之一。隨著工藝的進步，對放大器的線性度的要求也越來越高。失真分析也因此受到更多的關注。
　　本文提出了一種基于符號化的失真分析方法，用于運放的弱非線性行為的失真分析。為了避免考慮所有 MOS管的非線性符號化帶來的復雜度，采用了分級的方法對運放的非線性建模。運放的每一級都用一個低階的多項式來擬合。傳統(tǒng)的符號化失真分析方法大都是基于手工推導，無論是狀態(tài)空間的向量法還是信號流的方法。推導過程都

2、十分的復雜，而且只能針對特定的電路，當電路結(jié)構(gòu)發(fā)生變化時，就需要重新推導，效率低下。本文的方法能夠自動的推導出失真的解析表達式。并且根據(jù)符號化方法的反復求值的特性，非常適合對電路進行Variation分析和優(yōu)化。同時對運放閉環(huán)反饋電阻進行掃描頻率分析，并對結(jié)果進行了討論。最后對單級和兩級的放大器電路進行測試，驗證了該方法的準確性，同時觀察到相對于數(shù)值仿真器Spectre速度有明顯的提升。但是本方法也存在一定的不足，比如現(xiàn)在只能用于運放電