光波導(dǎo)陣列電光掃描系統(tǒng)光利用率的研究.pdf

1、光波導(dǎo)陣列電光掃描器具有掃描范圍大、掃描頻率高、控制電壓低、系統(tǒng)體積小等優(yōu)點(diǎn)，在光學(xué)雷達(dá)、激光通信、激光制導(dǎo)和激光顯示等軍用與民用領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。本文對(duì)光波導(dǎo)陣列電光掃描系統(tǒng)的光利用率進(jìn)行實(shí)驗(yàn)和理論研究。
　　本研究主要內(nèi)容包括：⑴搭建了實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，測(cè)量了光波導(dǎo)陣列電光掃描系統(tǒng)光利用率，分析得到了影響其光利用率的主要因素，即：?jiǎn)文９饫w-光波導(dǎo)陣列耦合和光波導(dǎo)陣列芯片光利用率。⑵對(duì)單模光纖-光波導(dǎo)陣列光耦合系統(tǒng)進(jìn)行了研究。介紹

2、了光纖耦合系統(tǒng)的光耦合損耗和常見的耦合方式，利用光波導(dǎo)設(shè)計(jì)分析軟件模擬了四種光耦合模型，結(jié)果表明平端光纖直接耦合和自聚焦透鏡耦合的耦合效率較高。⑶分析了影響光波導(dǎo)陣列芯片光利用率的因素，即：光波導(dǎo)陣列模式泄漏損耗和材料的吸收損耗。模擬了在襯底和光波導(dǎo)陣列之間生長一層低折射率的隔離層來減小模式泄漏損耗，結(jié)果表明采用隔離層的光波導(dǎo)陣列芯片可使泄漏損耗從總輸入功率的38％降低至2%。⑷研究了光波導(dǎo)陣列各部分介質(zhì)的消光系數(shù)與吸收損耗的關(guān)系，獲得