基于Tcl的智能卡自動(dòng)化測(cè)試的研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著信息技術(shù)的不斷進(jìn)步和信息技術(shù)應(yīng)用的日益普及，智能卡（Smart Card）在諸多社會(huì)領(lǐng)域的應(yīng)用也越來越廣泛，諸如移動(dòng)電話SIM卡、交通一卡通、金融業(yè)的Visa Card、USB Key等等。而在眾多智能卡類應(yīng)用軟件的開發(fā)過程中，都離不開智能卡軟件測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試方案的好壞和測(cè)試的效率，直接影響著智能卡類應(yīng)用軟件的質(zhì)量。智能卡應(yīng)用層軟件具有結(jié)構(gòu)復(fù)雜，可變性強(qiáng)，功能特性多的特點(diǎn)。針對(duì)智能卡軟件結(jié)構(gòu)的這種特點(diǎn)，搭建一個(gè)高效的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，

2、并開發(fā)出完備的測(cè)試用例集，對(duì)完成智能卡軟件產(chǎn)品測(cè)試，保證軟件產(chǎn)品質(zhì)量是極其重要的。
　　 本文首先分析了當(dāng)前常用的軟件測(cè)試工具或測(cè)試方法，分析其應(yīng)用環(huán)境和機(jī)理，總結(jié)好的思路，發(fā)現(xiàn)其中的不足。然后介紹了軟件自動(dòng)化測(cè)試的理論基礎(chǔ)和進(jìn)展。緊接著分析了智能卡應(yīng)用軟件所處的特定資源環(huán)境。借鑒其它以Tcl語言為核心的自動(dòng)化測(cè)試工具中的方法和經(jīng)驗(yàn)，嘗試提出了一種以Tcl語言為基礎(chǔ)，針對(duì)智能卡應(yīng)用層軟件的自動(dòng)化測(cè)試方法。
　　 文章詳細(xì)

3、介紹了Tcl在C++/C語言環(huán)境下的移植和擴(kuò)展，創(chuàng)建了Tcl語言解釋器，搭建了智能卡軟件自動(dòng)化測(cè)試的物理模型，以Tcl語言為基礎(chǔ)，結(jié)合嵌入式大容量數(shù)據(jù)庫(kù)卡的測(cè)試實(shí)例，闡述了測(cè)試用例的設(shè)計(jì)原則，測(cè)試腳本的編寫規(guī)范，并介紹了如何產(chǎn)生大量高效的測(cè)試數(shù)據(jù)，巧妙地利用配置文件自動(dòng)生成測(cè)試用例，極大的提高了測(cè)試效率。通過測(cè)試后生成的性能分析報(bào)告和測(cè)試日志，方便了開發(fā)人員優(yōu)化軟件接口，盡快發(fā)現(xiàn)軟件接口中可能存在的Bug。最后，針對(duì)Tcl語言對(duì)中文字符