基于小波分析的雙波長(zhǎng)散斑干涉測(cè)量技術(shù)的研究.pdf

1、散斑干涉術(shù)測(cè)量技術(shù)是一種非破壞、高靈敏度、高準(zhǔn)確度的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，該技術(shù)可以對(duì)物體光學(xué)粗糙表面的粗糙度、位移量、形變量、振動(dòng)頻率和幅度以及表面應(yīng)力應(yīng)變等信息進(jìn)行全場(chǎng)的動(dòng)態(tài)測(cè)量。因?yàn)槠浜?jiǎn)易的光路結(jié)構(gòu)以及波長(zhǎng)級(jí)甚至更高的測(cè)量精度，目前已被廣泛應(yīng)用于航空航天業(yè)、機(jī)械制造業(yè)、以及生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，與其相關(guān)的新測(cè)量方法以及新算法也在不斷地涌現(xiàn)。本篇論文以時(shí)間序列散斑干涉術(shù)測(cè)量技術(shù)為基礎(chǔ)，在雙波長(zhǎng)測(cè)量方法、小波分析算法、以及小波包濾波算法這三方面進(jìn)行

2、了相關(guān)的實(shí)驗(yàn)與研究。
　　本篇論文的主要工作有:
　　(1)將雙波長(zhǎng)測(cè)量方法引入時(shí)間序列散斑干涉測(cè)量技術(shù)中，并對(duì)其進(jìn)行了理論推導(dǎo)與實(shí)驗(yàn)研究;搭建了波長(zhǎng)為473nm和532nm的雙波長(zhǎng)激光測(cè)量系統(tǒng)，獲取了雙波長(zhǎng)散斑時(shí)間序列相關(guān)條紋圖，同時(shí)基于此相關(guān)條紋圖對(duì)物體的位移信息進(jìn)行了復(fù)原。
　　(2)基于小波脊算法對(duì)與被測(cè)物位移相關(guān)的相位信息進(jìn)行復(fù)原。本論文中采用了三種不同的典型小波函數(shù)作為基函數(shù)，通過將復(fù)原結(jié)果與實(shí)際位移進(jìn)行比