HLSⅡ新注入系統(tǒng)分析與調(diào)試.pdf

1、注入系統(tǒng)是加速器的一個(gè)重要組成部分。注入系統(tǒng)用于將輸運(yùn)到輸運(yùn)線末端的電子束注入到儲(chǔ)存環(huán)中，是連接注入器和儲(chǔ)存環(huán)的紐帶。注入系統(tǒng)性能的好壞直接關(guān)系到儲(chǔ)存環(huán)注入效率的高低和橫向殘余振蕩振幅的大小，也是影響光源輻射水平的重要因素。本論文通過(guò)模擬和實(shí)驗(yàn)的手段，針對(duì)HLSⅡ存在的各種誤差的容忍度作了定性和定量的分析，為HLSⅡ以后Top-up的調(diào)試和運(yùn)行提供了重要的參考價(jià)值。與此同時(shí)，針對(duì)凸軌內(nèi)六級(jí)鐵的非線性效應(yīng)所造成的凸軌泄露，進(jìn)行了六級(jí)鐵的積

2、分強(qiáng)度優(yōu)化，使凸軌的泄露達(dá)到最小。
　　本文首先介紹了此次改造項(xiàng)目及新注入系統(tǒng)的具體狀況，并與之前的注入系統(tǒng)進(jìn)行了對(duì)比，闡述了新注入系統(tǒng)的特點(diǎn)。此外，詳細(xì)描述了新注入系統(tǒng)的組成部分，對(duì)其組成元件的性能和特點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)分析。為了研究束流注入的過(guò)程，對(duì)新注入系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)的物理分析。與此同時(shí)，針對(duì)HLSⅡ的實(shí)際情況，進(jìn)行了相關(guān)的誤差分析。在引入這些誤差的條件下，對(duì)電子束的注入過(guò)程進(jìn)行了一系列的跟蹤模擬，并得到了HLSⅡ?qū)Ω鞣N偏差的容忍

3、度。
　　同時(shí)，在改造后的合肥光源(HLSⅡ)上開展了一些相關(guān)的實(shí)驗(yàn)研究。首先在HLSⅡ Decay運(yùn)行方式下，進(jìn)行了注入效率和束流橫向殘余振蕩以及輻射劑量的測(cè)量。其次在引入沖擊磁鐵和切割磁鐵偏差的條件下，進(jìn)行了注入效率和束流橫向殘余振蕩的測(cè)量，得到了HLSⅡ?qū)ζ畹娜萑潭取Ｅc模擬結(jié)果相比，其數(shù)值偏低，但變化趨勢(shì)是符合的，這也驗(yàn)證了模擬的有效性。實(shí)驗(yàn)測(cè)量的結(jié)果偏低，可能是由于實(shí)際中存在許多非理想因素。
　　Top-up運(yùn)行是

4、合肥光源未來(lái)要采用的一種獨(dú)特的運(yùn)行方式。在HLSⅡ調(diào)試期間，也進(jìn)行了一些Top-up運(yùn)行的初步調(diào)試。調(diào)試初期，Top-up注入被打斷的現(xiàn)象時(shí)常出現(xiàn)，這主要是因?yàn)楣β试聪到y(tǒng)故障引起的。通過(guò)對(duì)調(diào)制器和微波功率源的調(diào)整，成功的解決了這個(gè)問(wèn)題。與此同時(shí)，還對(duì)Top-up注入期間的輻射劑量進(jìn)行了監(jiān)測(cè)，并對(duì)Top-up調(diào)試中出現(xiàn)的問(wèn)題提出了改進(jìn)的途徑和方法。此外，對(duì)凸軌內(nèi)六極鐵的非線性效應(yīng)進(jìn)行了詳細(xì)分析，采用優(yōu)化六極鐵積分強(qiáng)度的方式使凸軌泄露達(dá)到了