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文檔簡介
1、隨著數(shù)字電路工作頻率越來越高,集成規(guī)模越來越大,其電磁兼容(Electromagnetic Compatibility,EMC)問題變得越來越突出。因此,電磁兼容設(shè)計已經(jīng)成為PCB設(shè)計中不可忽視的一環(huán),也是現(xiàn)代電子技術(shù)面臨的一項重大挑戰(zhàn)。本文主要研究了同步開關(guān)噪聲(Simultaneous Switching Noise,SSN)的產(chǎn)生機(jī)理,利用電磁帶隙結(jié)構(gòu)(Electromagnetic Band Gap,EBG)抑制SSN,以及電磁
2、帶隙結(jié)構(gòu)的信號完整性問題,為PCB電磁兼容設(shè)計提供了參考依據(jù)。
全文工作包含以下幾點(diǎn):
(1)研究了芯片內(nèi)、芯片外SSN產(chǎn)生的機(jī)理,對SSN的頻譜進(jìn)行了分析,提出常見的減小SSN的措施。對添加去耦電容抑制SSN的效果進(jìn)行了分析,并初步分析了去耦電容數(shù)量對噪聲抑制效果的影響。
(2)對常見的抑制SSN方法進(jìn)行了研究,比較了各自的優(yōu)缺點(diǎn)。
(3)對采用電磁帶隙結(jié)構(gòu)(Electromag
3、netic Band Gap,EBG)抑制SSN的效果與可行性進(jìn)行了研究,并設(shè)計兩種新型EBG結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了新的噪聲抑制范圍。
(4)對直線通道電磁帶隙電源平面進(jìn)行了分析,研究了其貼片單元等效電路。并提出了十字狹縫EBG平面和環(huán)形狹縫EBG平面,仿真結(jié)果表明新結(jié)構(gòu)在噪聲抑制性能方面有明顯改善。
(5)經(jīng)仿真驗證了在采用EBG電源平面的PCB中加入去耦電容可以改善EBG電源平面的低頻噪聲抑制性能。
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