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1、西安電子科技大學學位論文獨創(chuàng)性(或創(chuàng)新性)聲明本人聲明所呈交的論文是我個人在導師的指導下進行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知,除了文中特別加以標注和致謝中所羅列的內容以外,論文中不包含其他人已經發(fā)表或撰寫過的研究成果;也不包含為獲得西安電子科技大學或其它教育機構的學位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻均已在論文中作了明確的說明并表示了謝意。申請學位論文與資料若有不實之處,本人承擔一切相關責任。本人簽名:日
2、期:2:叢呈:蘭墨西安電子科技大學關于論文使用授權的說明本人完全了解西安電子科技大學有關保留和使用學位論文的規(guī)定,即:研究生在校攻讀學位期間論文工作的知識產權單位屬西安電子科技大學。本人保證畢業(yè)離校后,發(fā)表論文或使用論文工作成果時署名單位仍然為西安電子科技大學。學校有權保留送交論文的復印件,允許查閱和借閱論文;學??梢怨颊撐牡娜炕虿糠謨热?,可以允許采用影印、縮印或其它復制手段保存論文。(保密的論文在解密后遵守此規(guī)定)本人簽名:導師簽
3、名:日期:戶/f2、忽日期:2翌6f!蘭蘭呈:摘要電子器件噪聲理論表明低頻噪聲對電子器件或材料內部的各種缺陷和損傷非常敏感,因而電子器件的低頻噪聲可以用來表征器件的質量和可靠性,分析失效機理,進行產品篩選。上述各種低頻噪聲應用的實現(xiàn)要以低頻噪聲測試技術為基礎,所以國內外該領域中的研究者們一直致力于低頻噪聲測試技術的創(chuàng)新和改進,并且已取得了顯著的成果。然而隨著低頻噪聲應用范圍不斷擴大,其應用范圍所涵蓋的器件也變得多種多樣,從而對低頻噪聲測
4、試技術提出了挑戰(zhàn),要求噪聲測試技術能勝任各種類型器件的測試。當?shù)皖l噪聲的應用延伸至諸如絕緣介質材料、高阻值電阻器、電容器等各種等效阻值相當高的高阻器件時,目前已有的低頻噪聲測試技術已無法勝任這些高阻值器件的噪聲測試。因此,對高阻器件低頻噪聲測試技術進行研究具有重要意義。本文在總結了國內外高阻器件低頻噪聲測試技術現(xiàn)狀和噪聲測試需求的基礎上,設計了針對高阻器件新的電流噪聲測試技術和新的電壓噪聲測試技術。新的電流噪聲測試技術解決了已有技術中信
5、號的功率譜密度頻帶窄和數(shù)據中的信息無法充分提取的問題;新的電壓噪聲測試技術解決了已有技術中噪聲信號進入放大器之前衰減嚴重,無法測試單一器件的噪聲和放大器無法使用直流耦合的缺陷。本研究利用新的測試技術對高阻值厚膜電阻器和有機聚合物鉭電容器的低頻噪聲進行了測試,以此來對測試技術進行了驗證。同時,本文將新的高阻器件低頻噪聲電壓測試技術實際應用于高阻厚膜電阻器的爆裂噪聲測試和分析,得到其爆裂噪聲與偏壓的關系,并通過對該關系進行物理解釋,提出了一
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