光纖硬盤模擬卡研發(fā)及應用.pdf

1、獨立冗余磁盤陣列（RAID，Redundant Array of Independent Disk），能提供比單個硬盤更高的存儲性能并提供數據備份技術。隨著計算機技術的不斷發(fā)展，為了提高計算機的整體數據流量，磁盤陣列的發(fā)展不斷完善，同時也給存儲陣列的測試帶來了一些問題。由于對存儲陣列的測試需要用到大量硬盤，而硬盤在測試中容易損壞且成本較高，因此設計中提出了一種光纖硬盤模擬卡(FCLB)代替硬盤用于存儲陣列的環(huán)境應力篩選測試(ESS)中。

2、FCLB的設計不僅提高了測試效率而且大大降低了成本，使得磁盤陣列的生產周期更加短暫，因此效益更高。
　　文章提出了一種 FCLB的結構，并將其應用于存儲陣列的環(huán)境應力篩選測試中。首先闡述了磁盤陣列的結構和原理以及環(huán)境應力篩選測試的原理以及測試方法；然后提出了這種 FCLB系統(tǒng)的結構和設計原理，分析了系統(tǒng)中涉及到的主要硬件 BCM8422和 PIC18F6520的功能，并同時對設計完成的結構進行了單片機方面的設計以及相關應用程序的編

3、寫。對 FCLB的驗證成功之后，將其應用到存儲陣列中的環(huán)境應力測試中，包括隨機振動測試和高變溫率的溫變循環(huán)測試。并利用信號完整性（SI）的PASS和FAIL原則對測試結果進行了判定。
　　結合富士康公司的生產工藝將FCLB設計制造成PCB板，最后得到的FCLB產品比一般的硬盤要輕。其中 FCLB在隨機振動下能驗證成功，FCLB在溫度為0~70℃時也能驗證成功。將其應用到環(huán)境應力篩選測試工站中的測量結果也表明FCLB代替硬盤的應用節(jié)