基于JTAG接口電路故障診斷系統(tǒng)的上位機(jī)軟件設(shè)計(jì).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、電子器件制造工藝不斷提升,元器件變的越來越小,使得電路的集成度越來越高。裸露在被測電路板上的測試點(diǎn)越來越少,出現(xiàn)了越來越多的不可接觸的測試節(jié)點(diǎn),測試難度和成本都在不斷增大,傳統(tǒng)的基于探針的電路測試方法已經(jīng)不能滿足新的發(fā)展要求了。在這種背景下,邊界掃描理論應(yīng)運(yùn)而生,并于1990年形成了IEEE1149.1的標(biāo)準(zhǔn)。通過在芯片的外部引腳添加特殊功能的寄存器,可以測試芯片內(nèi)部邏輯功能有沒有問題,可以測試芯片的外圍電路連接關(guān)系是否正常,還可以對(duì)被

2、測電路執(zhí)行一些更加復(fù)雜的測試。大大提高了電路的可測性,因此研究基于邊界掃描理論的測試工具是十分必要的。
  通過對(duì)BSDL(邊界掃描語言)文件的研究,本文實(shí)現(xiàn)了一種通用的讀取BSDL文件的方法,可以讀取多個(gè)公司提供的 BSDL文件,在獲取到文件信息后,可以繪制芯片的模擬圖形和管腳狀態(tài)變化的波形圖,很直觀的展示了被測電路中對(duì)應(yīng)芯片管腳狀態(tài)的變化。通過對(duì)網(wǎng)表文件的研究,本文實(shí)現(xiàn)了對(duì)多種PCB設(shè)計(jì)軟件生成網(wǎng)表文件信息的提取與處理。上位機(jī)

3、通過USB與JTAG控制器連接,使用賽普拉斯公司的CY7C68031 USB接口芯片,利用公司提供的CyAPI實(shí)現(xiàn)了USB上位機(jī)軟件的編寫。根據(jù)之前獲取到的被測電路的測試準(zhǔn)備信息,測試人員可以結(jié)合自身的測試需求,利用軟件提供的不同測試算法操作上位機(jī)對(duì)被測電路板執(zhí)行特定的測試,例如,實(shí)時(shí)的顯示被測電路中支持邊界掃描芯片的管腳狀態(tài)、根據(jù)需求設(shè)置指定管腳狀態(tài)高低電平值、對(duì)被測電路執(zhí)行互聯(lián)測試等。上位機(jī)軟件采用MFC編寫,為用戶提供了友好的人機(jī)

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