X射線束光纖線包特征參數(shù)測試系統(tǒng)設(shè)計與實現(xiàn).pdf

1、光纖繞制技術(shù)是光纖制導(dǎo)中的一項關(guān)鍵技術(shù)，光纖繞制結(jié)構(gòu)的不規(guī)范及其在運輸、存貯過程中造成的內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷勢必會造成放線過程中的斷纖現(xiàn)象，所以有必要在使用前，對制導(dǎo)光纖纏繞線包進(jìn)行檢測。而本論文正是在此國防研究背景下展開，進(jìn)行X射線束光纖線包特征參數(shù)測試系統(tǒng)的設(shè)計。
　　 本文首先對X射線檢測原理作了詳細(xì)的闡述，并且對研究對象制導(dǎo)光纖纏繞線包的特性作了一定的分析研究，在此基礎(chǔ)上設(shè)計了一套相關(guān)的測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)主要包括:用于檢測的細(xì)X射

2、線源;可實現(xiàn)線包高精度平移、豎直移動、360度轉(zhuǎn)動的支架;基于光電倍增管的X射線熒光探測儀;數(shù)據(jù)采集與處理單元。該測試方案主要利用X射線透過光纖線包，由于光纖層數(shù)差異而導(dǎo)致的射線衰減差異，從而能夠反映出光纖線包的結(jié)構(gòu)參數(shù)。
　　 本文對測試環(huán)境散射的X射線強(qiáng)度作了多點監(jiān)測，驗證了測試環(huán)境的安全性。對制導(dǎo)光纖纏繞線包的整體結(jié)構(gòu)作了X射線束掃描，試驗信號數(shù)據(jù)能夠完整反映線包的整體結(jié)構(gòu)。對單層和單匝光纖差異做了模擬試驗，得出了模擬缺陷