基于IEEE Std 1500的SoC串擾故障檢測.pdf

1、在高密度、高速度的下工作的SoC(System on Chip)測試中,串擾故障檢測是必須考慮的問題之一。本文提出一種新的串擾故障檢測模型,并且設計出基于 IEEE Std1500協(xié)議的SoC串擾故障測試矢量生成構架,實現(xiàn)高效省時的串擾故障檢測。
　　MT故障檢測模型作為一種串擾故障激勵檢測模型,具有較好的故障覆蓋率,但也存在含有大量矢量冗余的問題。本文建立在傳統(tǒng)的MT(Multi-transition)串擾故障檢測模型的基礎上,

2、在保證100％故障覆蓋率的前提下,對MT模型存在的大量矢量冗余進行精簡,提出了一種新的激勵檢測模型—改進型MT模型。該模型通過對種子的篩選及施加,測試矢量有規(guī)律跳變,產生了全部的測試矢量。通過軟件仿真及數據比較,驗證了改進型MT模型具有可行性及高效性。通過對基于IEEE Std1500標準的測試殼各部分及測試控制器各模塊進行設計,特別是對測試殼的測試環(huán)單元進行設計,建立了SoC互連串擾故障測試矢量生成構架,實現(xiàn)了改進型MT模型故障檢測。