版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、作為清潔無(wú)污染的優(yōu)質(zhì)能源,太陽(yáng)能在化石燃料日漸減少、帶來(lái)的環(huán)境問(wèn)題凸顯的情況下,已經(jīng)成為新能源的重要組成部分。太陽(yáng)能發(fā)電技術(shù),是利用太陽(yáng)能的重要形式,多晶硅太陽(yáng)能電池以工藝相對(duì)簡(jiǎn)單,生產(chǎn)成本低的優(yōu)勢(shì),被廣泛采用于光伏制造業(yè)中。
質(zhì)量管理是企業(yè)生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)。為保證品質(zhì)與降低成本,需要對(duì)鍍減反射膜PECVD工藝下料進(jìn)行檢測(cè)。多晶硅太陽(yáng)能、電池表面紋理特征復(fù)雜,質(zhì)量檢測(cè)一直依賴(lài)人工,效率低、重復(fù)檢出能力差。
本文從工業(yè)工
2、程專(zhuān)業(yè)的質(zhì)量管理角度出發(fā),研究了多晶硅表面質(zhì)量管理的信息化技術(shù),基于機(jī)器視覺(jué)和SVM,設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了的太陽(yáng)能多晶硅表面缺陷識(shí)別及軟件檢測(cè)系統(tǒng),具有自動(dòng)化、分類(lèi)準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn),具有理論及使用價(jià)值。
本文主要工作有在以下幾個(gè)方面:
?。?)根據(jù)某太陽(yáng)能多晶硅電池生產(chǎn)企業(yè)的實(shí)際問(wèn)題,研究了常見(jiàn)的太陽(yáng)能多晶硅片表面缺陷,對(duì)缺陷進(jìn)行了歸類(lèi),與成因分析。結(jié)合企業(yè)實(shí)際需求,通過(guò)利用機(jī)器視覺(jué)和模支持向量機(jī),結(jié)合圖形圖像分析與特征提取方法,提出
3、了自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)方案,提出了檢測(cè)系統(tǒng)軟件的框架、檢測(cè)流程及工作原理,實(shí)現(xiàn)了多晶硅片質(zhì)量管理與檢測(cè)的自動(dòng)化、信息化。
?。?)針對(duì)多晶硅片檢測(cè)的難點(diǎn),提出利用邊緣擬合進(jìn)行硅片區(qū)域精確定位,克服隨機(jī)上料的問(wèn)題,硅片的精確定位,保證了后續(xù)檢測(cè)數(shù)據(jù)來(lái)源的可靠性,提高了分類(lèi)正確率;通過(guò)色彩空間變換,降低了顏色檢驗(yàn)的維數(shù);在對(duì)斑點(diǎn)檢測(cè)中,選取與硅片自身紋理無(wú)關(guān)的飽和度通道進(jìn)行檢測(cè),克服多晶硅片自身紋理干擾的難點(diǎn)。
?。?)針
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 鑄造多晶硅中原生雜質(zhì)及缺陷的研究.pdf
- 多晶硅產(chǎn)品
- 鑄造多晶硅材料中氧缺陷的研究.pdf
- 0.18微米邏輯集成電路硅和多晶硅蝕刻后缺陷檢測(cè)的研究
- 多晶硅碰壁檢測(cè)技術(shù)研究.pdf
- 多晶硅表面超聲駐波制絨方法研究.pdf
- 多晶硅的檢測(cè)和生長(zhǎng)大全
- 單晶硅與多晶硅的區(qū)別
- 溝槽MOSFET柵極多晶硅空隙缺陷問(wèn)題研究及工藝優(yōu)化.pdf
- 表面加工多晶硅薄膜特性在線測(cè)試方法研究.pdf
- 表面加工多晶硅薄膜熱導(dǎo)率的在線測(cè)試研究.pdf
- 紙張表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)上位機(jī)軟件開(kāi)發(fā).pdf
- 多晶硅表面微結(jié)構(gòu)的濕法制備與性能研究.pdf
- 多晶硅太陽(yáng)電池制絨和隱性缺陷的電致發(fā)光檢測(cè).pdf
- 多晶硅還原工藝及裝備優(yōu)化.pdf
- 多晶硅產(chǎn)業(yè)近況10
- 太陽(yáng)能多晶硅
- 多晶硅生產(chǎn)與產(chǎn)業(yè)發(fā)展概述
- 表面加工多晶硅薄膜材料參數(shù)的在線測(cè)試系統(tǒng)研究.pdf
- 酸腐蝕液調(diào)節(jié)多晶硅表面結(jié)構(gòu)的研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論