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文檔簡介
1、低維材料與人們的生活息息相關(guān),因此對低維材料的深入研究受到了各個(gè)領(lǐng)域研究人員的重視。由于納米材料其特有的性能,使得納米材料在納米電子器件的連接、光導(dǎo)纖維、集成電路、太陽能電池等各個(gè)領(lǐng)域有著至關(guān)重要的作用。電子的自陷可以讓人們更加深入的了解納米線的特殊性能,對提高人們的生活水平有著重要的意義。
這篇論文研究的是柱型納米線中電子與聲學(xué)聲子的相互作用以及這種相互作用可能導(dǎo)致的極化子自陷轉(zhuǎn)變。首先采用Huybrechts變分法,運(yùn)用柱
2、型納米線中電子—聲學(xué)聲子相互作用哈密頓量,對其進(jìn)行兩次么正變換,計(jì)算出了納米線中聲學(xué)極化子的基態(tài)能量,便于討論柱型納米線中聲學(xué)極化子的自陷問題。
研究結(jié)果表明,判斷柱型納米線聲學(xué)極化子能否自陷的判別標(biāo)準(zhǔn)αq0的近似值比一維系統(tǒng)中聲學(xué)極化子自陷標(biāo)準(zhǔn)大,但是比三維系統(tǒng)聲學(xué)極化子自陷標(biāo)準(zhǔn)小。因此納米線中聲學(xué)極化子的自陷難易程度介于一維情況和三維情況中間,并且半徑越小,納米線聲學(xué)極化子的自陷轉(zhuǎn)變越容易發(fā)生。運(yùn)用文中計(jì)算得到的納米線中聲
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