光模塊的失效模式與嵌入式監(jiān)測(cè)方法研究.pdf

1、光電產(chǎn)品泛指具有光電和電光轉(zhuǎn)換功能的光電集成產(chǎn)品。與一般的電子產(chǎn)品不同，光電產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，信號(hào)多樣，且具有高精度、高速率和高度敏感性。因此，光電產(chǎn)品的故障監(jiān)測(cè)和診斷技術(shù)研究比較滯后，這也造成了光電產(chǎn)品機(jī)內(nèi)測(cè)試技術(shù)發(fā)展緩慢。針對(duì)這一問(wèn)題，本文以光收發(fā)一體模塊這一典型的光電集成產(chǎn)品為對(duì)象，深入分析了由于光電子器件和功能電路失效導(dǎo)致的光模塊故障模式，并基于光模塊原有的數(shù)字監(jiān)測(cè)功能提出了改進(jìn)方案，為光電產(chǎn)品故障監(jiān)測(cè)和診斷技術(shù)奠定理論和技術(shù)基

2、礎(chǔ)。
　　論文的主要研究?jī)?nèi)容包括：
　　1.激光器和探測(cè)器的失效分析與特性仿真
　　將光模塊的失效模式分為器件失效和電路失效兩類，首先探討半導(dǎo)體激光器和光電探測(cè)器的失效模式，建立它們的故障樹(shù)，并從物理層面定性地分析了其失效影響。然后利用激光器和探測(cè)器的等效電路模型，基于PSpice軟件工具對(duì)其進(jìn)行特性仿真，獲得激光器和探測(cè)器在不同條件下的工作狀態(tài)，歸納引起其失效的主要原因。
　　2.光模塊電路故障及故障影響分析<

3、br>　　分別從發(fā)射部分和接收部分兩個(gè)方面探討光模塊的電路故障，著重對(duì)發(fā)射部分的自動(dòng)功率控制和自動(dòng)調(diào)制控制電路，以及接收部分的前置放大電路進(jìn)行分析，確定引起光模塊失效的主要電路原因。然后分析光模塊主要性能參數(shù)之間的影響。最后利用Optisystem軟件工具，建立數(shù)字光纖傳輸系統(tǒng)，利用該系統(tǒng)仿真光模塊和光電子器件主要失效模式對(duì)光纖傳輸性能造成的影響。
　　3.光模塊嵌入式監(jiān)測(cè)方法研究
　　對(duì)SFF-8472協(xié)議規(guī)定的數(shù)字監(jiān)測(cè)與