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文檔簡介
1、(Cr,Ca)∶YAG晶體因其優(yōu)越的機械穩(wěn)定性和光學特性、較高的熱導率和激光損傷閾值被廣泛應用于高功率調(diào)Q激光器以及鎖模激光器。本論文采用光學浮區(qū)法,生長出了YAG、Cr∶YAG和(Cr, Ca)∶YAG等光學晶體,并通過XRD、SEM等手段對其微觀結(jié)構(gòu)進行表征,并對上述晶體粉末的XRD譜進行了Rietveld精修,得到了它們的豐富的晶體結(jié)構(gòu)信息;用紫外-可見光分光光度計研究了其吸收光譜和光學透過率;用光致發(fā)光光譜儀(PL)研究了其發(fā)射
2、光譜;研究了上述晶體的制備工藝以及摻雜濃度對(Cr, Ca)∶YAG晶體光學性能的影響。此外,本論文還基于密度泛函理論第一性原理方法研究了YAG以及Cr∶YAG(Cr∶0.6 at.%)和(Cr,Ca)∶YAG(Cr, Ca∶0.6 at.%)晶體的態(tài)密度和能帶結(jié)構(gòu),取得了有意義的結(jié)果:
(1)不同摻雜(Cr,Ca)∶YAG陶瓷料棒以及對應生長出的單晶粉末XRD譜以及SEM圖表明:晶粒大小均勻、無團聚現(xiàn)象或者團聚現(xiàn)象較少、孔洞
3、少的陶瓷料棒,較易生長出好的晶體。
(2)分析了Cr∶YAG(Cr∶0.6 at.%)、(Cr,Ca)∶YAG(Cr,Ca∶0.6 at.%)單晶體粉末XRD衍射譜,獲得了上述兩晶體粉末XRD衍射譜擬合曲線,Rwp值分別為:12.75%,12.55%,表明曲線的擬合效果非常好。尋找到了最合適的擬合函數(shù):Tomandl Pseudo-Voigt,同時也獲得了上述單晶體粉末的晶格常數(shù)以及其半高寬參數(shù),發(fā)現(xiàn)Cr、Ca摻雜會導致YAG
4、晶體發(fā)生微小畸變。
(3)分析不同摻雜濃度的Cr∶YAG以及(Cr,Ca)∶YAG(Cr,Ca濃度相同)晶體在600nm~800nm發(fā)射光譜,發(fā)現(xiàn)它們都存在4個發(fā)射峰,其中位于688nm處的最強峰是R線零聲子激發(fā)峰,是由Cr3+離子4E2→4A2躍遷引起的;而位于679.5nm,706.5nm以及725nm三個峰是由于Cr3+離子2E→4A2躍遷的聲子旁帶引起的。同時也發(fā)現(xiàn)Cr∶YAG(Cr∶0.6at.%)晶體和(Cr,Ca
5、)∶YAG(Cr,Ca∶0.02at.%)晶體在摻雜濃度不同的Cr∶YAG以及(Cr, Ca)∶YAG晶體系列中發(fā)射光強最強。
(4)分析不同摻雜濃度的(Cr,Ca)∶YAG晶體的吸收光譜,發(fā)現(xiàn)當Cr離子濃度為0.04at.%,Ca離子濃度為0時,Cr∶YAG晶體的吸收峰分別位于430nm和600nm附近,且分別是Cr3+離子3B1(3A2)→3A2,和3B1(3A2)→3E(3T1)的能級躍遷引起的。當Cr離子濃度為0.04
6、at.%,Ca離子濃度逐漸增加時,晶體的吸收峰會分別從430nm和600nm逐漸紅到465nm和612nm附近,且峰形也發(fā)生了變化。
(5)對(Cr,Ca)∶YAG晶體吸收邊曲線的研究,獲得了YAG、(Cr,Ca)∶YAG(Cr,Ca∶0.6 at.%)以及Cr∶YAG(Cr∶0.6 at.%)等晶體的光學禁帶寬度分別為:6.52eV,6.31eV以及5.38eV;以及通過通過第一性原理計算獲得的態(tài)密度譜圖的分析,顯示上述晶體
7、的禁帶寬度分別為:3.72eV,2.76eV和1.98eV。并且發(fā)現(xiàn)實驗結(jié)果與理論獲得的禁帶寬度隨離子摻雜的變化趨勢相同。
(6)分析YAG、Cr∶YAG(Cr∶0.6 at.%)以及(Cr,Ca)∶YAG(Cr,Ca∶0.6 at.%)等晶體的態(tài)密度,發(fā)現(xiàn)當Cr3+離子摻雜到Y(jié)AG晶體中時,Cr離子在Cr∶YAG晶體費米能級附近引入3d電子態(tài),從而減小了Cr∶YAG的禁帶寬度。因此,Cr∶YAG晶體的光學帶隙低于YAG的光學
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